Nutarimas dėl kontroliuojamųjų strateginių prekių ir technologijų sąrašų patvirtinimo 1997 m. lapkričio 28 d. Nr. 1321 Vilnius Vadovaudamasi Lietuvos Respublikos strateginių

Apie ką šis teisės aktas?

Šis teisės aktas patvirtina kontroliuojamųjų strateginių prekių ir technologijų sąrašus, siekiant reguliuoti jų importą, tranzitą ir eksportą.

Kam taikoma: Asmenims ir įmonėms, užsiimantiems strateginių prekių ir technologijų importu, tranzitu ir eksportu; Institucijoms, atsakingoms už strateginių prekių ir technologijų kontrolę.

Svarbiausia

Šalis: Lietuva
Teisės sritis: Energetika ir tinklų sektoriai
Šaltinis: e-seimas.lrs.lt
Tekstas gautas: 2026-06-17
Paaiškinimas atnaujintas: 2026-07-07

Ką reguliuoja šis teisės aktas?

Kontroliuojamųjų strateginių prekių ir technologijų sąrašus.
Tarptautinį pramoninį sąrašą, apimantį dvigubos paskirties (civilinės ir karinės) prekes ir technologijas.
Įrangą, mazgus, komponentus, medžiagas ir technologijas, susijusias su aviacija, kosmosu, raketine technika ir kitomis strateginėmis sritimis.

Kam taikomas šis teisės aktas?

Asmenims ir įmonėms, užsiimantiems strateginių prekių ir technologijų importu, tranzitu ir eksportu.
Institucijoms, atsakingoms už strateginių prekių ir technologijų kontrolę.

Kokie yra pagrindiniai punktai?

Sąrašai apima perspektyvias medžiagas, įrangą, mazgus, komponentus ir technologijas.
Kontroliuojami komponentai, pagaminti iš fluorintų junginių, specialiai sukurti aviacijos ar kosmoso technikai.
Reguliuojami kompozitų dariniai ar sluoksniuotosios medžiagos, turinčios organinę, metalo ar anglies matricą, su specifiniais tamprumo modulio ir tempiamojo stiprio reikalavimais.
Kontroliuojamos befluorių polimerinių medžiagų plėvelės, lakštai, juostos ar kaspino pavidalo dirbiniai, kurių storis didesnis kaip 0,254 mm arba kurie padengti anglimi, grafitu, metalais ar magnetinėmis medžiagomis.
Į sąrašus įtraukta pluoštų, prepregų, ruošinių ar kompozitų gamybos įranga, metalų lydiniai, metalų lydinių milteliai ir iš lydinių pagamintos medžiagos, atitinkančios nurodytus techninius parametrus.

Energetika ir tinklų sektoriai

Pastaba. Lietuvos Respublikos Seimo priimtas, bet Respublikos Prezidento nepasirašytas. LIETUVOS RESPUBLIKOS ENERGETIKOS

Deklaracija dėl europos sąjungos ir europos ekonominės erdvės vienalaikės plėtros Susitariančiosios Šalys pabrėžia…

Statistikos departamento prie Lietuvos Respublikos vyriausybės generalinis direktorius įsakymas dėl energetikos b

Priešgaisrinės apsaugos ir gelbėjimo departamento

Generalinio direktoriaus Lietuvos archyvų departamento prie Lietuvos Respublikos vyriausybės generalinio direktoriaus…

Lietuvos Respublikos žemės ūkio ministras įsakymas dėl gairių pareiškėjams, teikiantiems projektus paramai gauti

Šis dokumentas yra sutartis dėl Kroatijos Respublikos stojimo į Europos Sąjungą, nustatanti jos narystės sąlygas ir…

Nutarimas dėl Lietuvos Respublikos vyriausybės 1992 m. gegužės 12 d. nutarimo nr. 343 „dėl specialiųjų žemės ir miško…

Energetika ir tinklų sektoriai

Įstatymo tekstas

LIETUVOS RESPUBLIKOS VYRIAUSYBĖ N U T A R I M A S DĖL KONTROLIUOJAMŲJŲ STRATEGINIŲ PREKIŲ IR TECHNOLOGIJŲ SĄRAŠŲ PATVIRTINIMO 1997 m. lapkričio 28 d. Nr. 1321 Vilnius Vadovaudamasi Lietuvos Respublikos strateginių prekių ir technologijų importo, tranzito ir eksporto kontrolės įstatymu (Žin., 1995, Nr. 61-1533; 1997, Nr. 65-1557) ir Lietuvos Respublikos įstatymu „Dėl Lietuvos Respublikos strateginių prekių ir technologijų importo, tranzito ir eksporto kontrolės įstatymo įgyvendinimo“ (Žin., 1995, Nr. 61-1534; 1996, Nr. 66-1578), Lietuvos Respublikos Vyriausybė nutaria:

Patvirtinti kontroliuojamųjų strateginių prekių ir technologijų sąrašus (pridedama).

Ministras Pirmininkas Gediminas Vagnorius Ūkio ministras Vincas Babilius ______________ PATVIRTINTA Lietuvos Respublikos Vyriausybės 1997 m. lapkričio 28 d. nutarimu Nr. 1321 KONTROLIUOJAMŲJŲ STRATEGINIŲ PREKIŲ IR TECHNOLOGIJŲ SĄRAŠAI* 1 grupė Tarptautinis pramoninis sąrašas (dvigubos paskirties – civilinės ir karinės – prekės ir technologijos) KPN kodas** ESKP kodas*** Pavadinimas 1010. Perspektyvios medžiagos 1A 1011. Įranga, mazgai ir komponentai ex 3917 1A001 1. Komponentai, pagaminti iš fluorintų junginių, tokie kaip: ex 3926.90 ex 8803.90 a. Riebokšliai, tarpikliai, sandarikliai ar degalų rezervuarai, specialiai sukurti aviacijos ar kosmoso technikai, pagaminti iš daugiau kaip 50 % bet kokios medžiagos, draudžiamos pagal 1013.9. b ar c. ex 3920.99 b. Iš vinilidenfluorido pagaminti pjezoelektriniai polimerai ir kopolimerai, kuriems būdinga:

1.Lakštų ar plėvelės pavidalas; ir 2. Didesnis kaip 200 mm storis. ex 4016.99 c. Riebokšliai, tarpikliai, vožtuvų lizdai, rezervuarai ar diafragmos, pagaminti iš fluorelastomerų, į kurių sudėtį įeina bent vienas vinileterių klasės monomeras, specialiai sukonstruoti aviacijos, kosmoso ar raketinei technikai. ex 3921.90 1A002 2. Kompozitų dariniai ar sluoksniuotosios medžiagos (laminatai): a. Turinčios organinę matricą ir pagamintos iš 1013.10. c, d ar e uždraustų medžiagų; arba ex 6815.10 8108.90 8109.90 b. Turinčios metalo ar anglies matricas, kurių gamybai panaudotos:

1.Anglies pluoštinės ar filamentinės (gijinės) medžiagos, kurių: a. Savitasis tamprumo modulis didesnis kaip 10,15´106 m; ir b. Savitasis tempiamasis stipris didesnis kaip 17,7´104 m; arba 2. Medžiagos, uždraustos pagal 1013.10. c.

Techninės pastabos:

1.Savitasis tamprumo modulis yra paskaliais išreikštas (atitinka N/m2) Jungo modulis, padalytas iš savitojo sunkio (N/m3), išmatuoto (296±2) K((23±2)0C) temperatūroje, esant (50±5)% santykiniam oro drėgniui.

2.Savitasis tempiamasis stipris yra paskaliais išreikštas (atitinka N/m2) kritinis tempiamasis stipris, padalytas iš savitojo sunkio (N/m3), išmatuoto (296±2) K((23±2)0C) temperatūroje, esant (50±5)% santykiniam oro drėgniui.

Pastaba:

1011.2. nedraudžia kompozitų darinių ar sluoksniuotųjų medžiagų, pagamintų iš epoksidinėje dervoje įmirkytų pluoštinių ar filamentinių anglies medžiagų, skirtų orlaivių konstrukcijoms remontuoti, arba sluoksniuotųjų medžiagų, jeigu jų plotas neviršija 1 m2.

1A003 3. Plėvelių, lakštų, juostų ar kaspinų pavidalo befluorių polimerinių medžiagų dirbiniai draudžiami pagal 1013.8. a, jeigu: ex 3920.99 ex 3921.99 a. Jų storis didesnis kaip 0,254 mm; arba b. Jie padengti arba laminuoti anglimi, grafitu, metalais arba magnetinėmis medžiagomis.

1B 1012. Bandymo, tikrinimo ir gamybos įranga 1B001 1. Pagal 1011.2 ar 1013.10 uždrausta žemiau išvardyta pluoštų, prepregų, ruošinių ar kompozitų gamybos įranga, taip pat specialiai jiems sukurti komponentai bei pagalbiniai reikmenys: ex 8445.40 ex 8448.19 ex 8448.33 ex 8448.39 a. Siūlų vyniojimo mašinos, kuriose pluošto pozicionavimo, pakavimo ir vyniojimo mechanizmai yra koordinuoti ir programuojami pagal tris ar daugiau ašių, specialiai sukonstruotos kompozitams ar sluoksniuotosioms medžiagoms gaminti iš pluoštinių ar filamentinių (gijinių) medžiagų. ex 8479.89 ex 8479.90 b. Juostelių ar pluošto grįžtelių išdėstymo mašinos, kuriose juostelių, grįžtelių ar lakštų pozicionavimo ir išdėstymo mechanizmai yra koordinuoti ir programuojami pagal dvi ir daugiau ašių, specialiai sukonstruotos kompozitiniams orlaivių sklandmenims arba raketų konstrukcijoms gaminti. ex 8446.10 ex 8446.30 ex 8447.90 ex 8448.19 ex 8448.49 ex 8448.59 c. Daugiakryptės, daugiamatės audimo ar pynimo mašinos, įskaitant adapterius ir modifikavimo įtaisus, sukurtos kompozitų dariniams, vartojamiems pluoštams austi, megzti ar pinti, gaminti, išskyrus tekstilės mašinas, nepritaikytas aukščiau nurodytam naudojimui. ex 8514.10 d. Įranga, specialiai suprojektuota ar pritaikyta armuotiesiems pluoštams gaminti, tokia kaip:

1.Polimerinio pluošto (tokio kaip poliakrilnitrilas, viskozė, pikis ar polikarbosilanas) pavertimo anglies ar silicio karbido pluoštu įranga, įskaitant specialiąją įrangą pluoštui tempti kaitinimo metu. ex 8419.89 ex 8419.90 2. Įranga elementų ar junginių cheminiam nusodinimui iš garų fazės ant kaitinamo pluoštinio pagrindo, siekiant gaminti silicio karbido pluoštus. ex 8474.80 ex 8474.90 3. Įranga ugniai atspariai keramikai (tokiai kaip aliuminio oksidas) šlapiojo centrifugavimo būdu suformuoti. ex 8419.89 ex 8419.90 4. Įranga aliuminio turinčiam pluoštui kaitinimo būdu paversti aliuminio pluoštu. ex 8419.89 ex 8419.90 e. Įranga pagal 1013.10. e draudžiamiems prepregams gaminti karštojo lydymo metodu. ex 9022.19 ex 9022.90 ex 9031.80 ex 9031.90 f. Neardomojo tikrinimo įranga, leidžianti nustatyti defektus pagal tris ašis, naudojant ultragarsinį ar rentgeno tomografą, specialiai suprojektuota kompozitinėms medžiagoms tirti. ex 8454.20 ex 8454.30 ex 8454.90 ex 8479.89 ex 8479.90 2. Sistemos ir jų komponentai, specialiai suprojektuoti pagal 1013.2. a.2, 1013.2. b ar 1013.2. c uždraustiems metalų lydiniams, metalo lydinių milteliams ar medžiagoms iš lydinių gaminti. ex 8207.30 ex 8207.90 ex 8466.20 ex 8466.94 ex 8515.90 3. Įrankiai, štampai, liejimo formos ar armatūra titano, aliuminio ar jų lydinių superplastiniam formavimui ar difuziniam suvirinimui, specialiai suprojektuoti gaminti tokius gaminius kaip: a. Orlaivių sklandmenys ar kosminių aparatų konstrukcijos; b. Orlaivių ar kosminių aparatų varikliai; arba c. Komponentai, specialiai sukurti tokioms konstrukcijoms ar varikliams.

1C 1013. Medžiagos 3920.93 ex 3920.99 1C001 1. Medžiagos, specialiai sukurtos elektromagnetinėms bangoms sugerti, arba natūraliai laidūs polimerai, kaip antai:

2819.10 ex 2819.90 ex 3824.90 a. Medžiagos, sugeriančios bangas, kurių dažniai viršija 2´108 Hz, bet mažesni kaip 3´1012 Hz, išskyrus tokias medžiagas:

Pastaba:

Jokia, užtikrinanti sugėrimą magnetinė medžiaga, pagal 1013.1. a nedraudžiama, kai ji yra sudėtinė dažų dalis.

1.Plaukeliniai absorberiai, sukurti naudojant natūraliuosius ar sintetinius pluoštus, kuriuose sugėrimą užtikrina nemagnetinė įkrova.

2.Absorberiai, kuriuose nėra magnetinių nuostolių ir kurių būdingasis paviršius yra neplokštus, įskaitant piramidinius, kūginius, pleištinius ir spiralinius paviršius.

3.Plokštieji absorberiai: a. Pagaminti iš:

Techninė pastaba:

Sugerties matavimo bandiniai, skirti pagal 1013.1. a.3. a. numatytiems tyrimams, turėtų būti kvadratinės formos (kraštinės ilgis ne mažesnis kaip 5 centrinį dažnį atitinkantys bangos ilgiai) ir išdėstyti tolimojoje spinduliuojančiojo šaltinio lauko zonoje.

1.a.3. a.1. Putplasčių (lanksčiųjų ar nelanksčiųjų) su anglies užpildu arba organinių medžiagų, įskaitant rišiklius, kurios, lyginant su metalais, užtikrina didesnį kaip 5% aidą dažnių juostoje ±15% platesnėje už centrinį krintančiosios energijos dažnį ir kurios neišlaiko aukštesnės kaip 450 K (1770C) temperatūros; arba 2. Keraminių medžiagų, užtikrinančių, lyginant su metalais, didesnį kaip 20% aidą dažnių juostoje ±15% platesnėje už centrinį krintančiosios energijos dažnį ir kurios neišlaiko aukštesnės kaip 800 K (5270C) temperatūros; b. Kurių tempiamasis stipris mažesnis kaip 7´106 N/m2; ir c. Kurių gniuždomasis stipris mažesnis kaip 14´106 N/m2.

4.Plokštieji absorberiai, pagaminti iš sukepinto ferito, kurio: a. Savitasis sunkis didesnis kaip 4,4; ir b. Didžiausia veikimo temperatūra 548 K (2750C).

3206.20 ex 3206.49 ex 3824.90 b. Medžiagos, kurių sugerties dažniai viršija 1,5´1014 Hz, bet mažesni nei 3,5´1014 Hz, nepraleidžiančios regimosios šviesos.

3920.93 ex 3920.99 c. Natūraliai laidžios polimerinės medžiagos, kurių tūrinis savitasis elektrinis laidis viršija 10000 S/m (simensų metrui) arba paviršinė savitoji varža mažesnė kaip 100 omų kvadratui ir kurių pagrindinis komponentas yra kuris nors iš šių polimerų:

1.Polianilinas;

2.Polipirolas;

3.Politiofenas;

4.Poli(fenilenas-vinilenas); arba 5. Poli(tienilenas-vinilenas).

Techninė pastaba:

Tūrininis savitasis elektrinis laidis ir paviršinė savitoji lakšto varža turi būti nustatoma naudojant ASTMD-257 standartą arba jo nacionalinį ekvivalentą.

1C002 2. Metalų lydiniai, metalų lydinių milteliai arba iš lydinių pagamintos medžiagos, tokios kaip:

Pastaba:

1013.2 nedraudžia metalų lydinių, metalų lydinių miltelių arba iš lydinių pagamintų medžiagų, naudojamų padėklams dengti. a. Metalų lydiniai, tokie kaip:

1.Žaliavos ar pusgaminio pavidalo lydiniai, kurių pagrindinis metalas – aliuminido sudėtyje esantis nikelis ar titanas;

7502.20 7505.12 7505.22 7506.20 7507.12 a. Nikelio aliuminidai, turintys 10 ar daugiau masės procentų aliuminio;

8108.10 ex 8108.90 b. Titano aliuminidai, turintys 12 ar daugiau masės procentų aliuminio;

2.Metalų lydiniai, pagaminti iš metalų lydinių miltelių ar stambiadispersių medžiagų, uždraustų 1013.2. b. Tai:

7502.20 7505.12 7505.22 7506.20 7507.12 a. Nikelio lydiniai, kurių:

1.Ardomojo įtempio trukmė 10000 valandų ar didesnė, kai temperatūra 923 K (6500C), o įtempis lygus 500 MPa; arba 2. Trumpasis ciklinis tvarumas 10000 ciklų ar didesnis 823 K (5500C) temperatūroje, kai didžiausias įtempis 700 MPa.

8112.91 ex 8112.99 b. Niobio lydiniai, kurių:

1.Ardomojo įtempio trukmė 10000 valandų ar didesnė, kai temperatūra 1073 K (8000C), o įtempis lygus 400 MPa; arba 2. Trumpasis ciklinis tvarumas 10000 ciklų ar didesnis 973 K (7000C) temperatūroje, kai didžiausias įtempis 700 MPa.

8108.10 ex 8108.90 c. Titano lydiniai, kurių:

1.Ardomojo įtempio trukmė 10000 valandų ar didesnė 723 K (4500C) temperatūroje, o įtempis 200 MPa; arba 2. Trumpasis ciklinis tvarumas 10000 ciklų ar didesnis 723 K (4500C) temperatūroje, kai didžiausias įtempis lygus 400 MPa;

7601.20 7604.21 7604.29 ex 7606.12 7606.92 ex 7608.20 d. Aliuminio lydiniai, kurių tempiamasis stipris:

1.240 MPa ar didesnis, kai temperatūra 473 K (2000C); arba 2. 415 MPa ar didesnis, kai temperatūra 298 K (2500C); ex 8104.19 ex 8104.90 e. Magnio lydiniai, kurių tempiamasis stipris 345 MPa ar didesnis, o korozijos 3% natrio chlorido vandeniniame tirpale sparta yra mažesnė kaip 1mm/metams, išmatuota remiantis ASTM standartu G-31 ar jo nacionaliniu ekvivalentu.

Techninės pastabos:

1.Pagal 1013.2. a draudžiami metalų lydiniai yra tie, kurie turi dides-nį nurodyto metalo svorio procentą negu bet kurio kito elemento.

2.Ardomojo įtempio trukmė turi būti išmatuota remiantis ASTM E-139 standartu ar jo nacionaliniu ekvivalentu.

3.Trumpasis ciklinis tvarumas turi būti išmatuotas remiantis ASTM E-606 standartu „Praktinės rekomendacijos trumpajam cikliniam tvarumui, esant pastoviai amplitudei, matuoti“ arba jo nacionaliniu ekvivalentu. Bandymas turi būti atliekamas išilgai ašies, vidutinis įtempių santykis lygus 1, o įtempių koncentracijos faktorius (K1) – 1. Vidutinis įtempis yra apibrėžiamas taip: didžiausiasis įtempis minus mažiausiasis įtempis, padalytas iš didžiausiojo įtempio. b. Metalų lydinių milteliai arba stambiadispersės medžiagos, draudžiamos pagal 1013.2. a, tokios kaip:

1.Sudarytos iš bet kurių žemiau nurodytų kompozicinių sistemų:

Techninė pastaba:

X toliau atitinka vieną ar daugiau lydinio elementų, 7504.00 a. Nikelio lydiniai (Ni-Al-X, Ni-X-Al), skirti turbininių variklių dalims ar komponentams gaminti, t. y. su mažiau kaip 3 nemetalinėmis didesnėmis kaip 100 mm dalelėmis (patekusiomis į lydinį gamybos metu) tarp 109 lydinio dalelių; ex 8112.91 b. Niobio lydiniai (Nb-Al-X ar Nb-X-Al, Nb-Si-X ar Nb-X-Si, Nb-Ti-X ar Nb-X-Ti);

8108.10 c. Titano lydiniai (Ti-Al-X ar Ti-X-Al);

7603.10 7603.20 d. Aliuminio lydiniai (Al-Mg-X ar Al-X-Mg, Al-Zn-X ar Al-X-Zn, Al-Fe-X ar Al-X-Fe); arba 8104.30 e. Magnio lydiniai (Mg-Al-X ar Mg-X-Al); ir 2. Pagamintos valdomojoje aplinkoje, kai naudojamas koks nors iš žemiau nurodytų procesų: a. Vakuuminis išpurškimas; b. Dujų išpurškimas; c. Išcentrinis išpurškimas; d. Grūdinamasis ištaškymas; e. Formavimas iš lydalo ir miltelių gavimas; f. Lydalo ekstrahavimas ir miltelių gavimas. g. Mechaninis sulydymas. c. Nesusmulkintų dribsnių, kaspinų ar smulkių lazdelių pavidalo medžiagos, valdomojoje aplinkoje pagamintos iš lydinių grūdi-namojo ištaškymo, formavimo iš lydalo ar lydalo ekstrahavimo metodu, naudojamos pagal 1013.2. b draudžiamų metalų lydinių miltelių ar stambiadispersinių medžiagų gamyboje.

1C003 3. Visų tipų bet kokio pavidalo magnetiniai metalai, kuriems būdinga kuri nors iš žemiau išvardytų charakteristikų:

7506.20 a. Pradinė santykinė magnetinė skvarba lygi ar didesnė už 120000, o storis 0,05 mm ar mažesnis;

Techninė pastaba:

Pradinės magnetinės skvarbos matavimai turi būti atlikti tik su visiškai atkaitintomis medžiagomis. ex 7202.99 b. Magnetostrikciniai lydiniai, kurių:

1.Magnetostrikcinė sotis didesnė kaip 5´10–4; arba 2. Magnetomechaninio ryšio koeficientas (k) didesnis kaip 0,8; arba 7506.20 ex 8105.90 c. Amorfinių lydinių juostos, kurių:

1.Sudėtyje yra ne mažiau kaip 75 masės procentai geležies, kobalto ar nikelio; ir 2. Soties magnetinė indukcija (BS) 1,6 T ar didesnė; ir a. Juostos storis 0,02 mm ar mažesnis; arba b. Savitoji elektrinė varža 2´10–4 W·cm ar didesnė.

2844.30 8101.91 8101.92 ex 8101.99 1C004 4. Urano-titano lydiniai arba volframo lydiniai su geležies, nikelio ar vario matrica, kurių: a. Tankis viršija 17,5 g/cm3; b. Tamprumo riba viršija 1250 MPa; c. Kritinis tempiamasis stipris viršija 1270 MPa; ir d. Santykinis pailgėjimas viršija 8%.

1C005 5. Superlaidieji kompozitiniai laidininkai, kurių ilgis viršija 100 m ar masė didesnė kaip 100 g, tokie kaip: ex 7408.19 ex 7605.19 ex 8544.49 ex 8544.59 8544.60 a. Daugiagysliai superlaidieji kompozitiniai laidininkai, kuriuose yra viena ar daugiau niobio-titano gyslų:

1.Įtvirtinti kitokioje negu varinė ar daugiausia vario turinti mišrios sudėties matrica; arba 2. Tokie, kurių skerspjūvio plotas mažesnis kaip 0,28´10–4 mm2 (6 mm skersmens, jei gyslos pjūvis apvalus). ex 7408.19 ex 7605.19 ex 8544.49 ex 8544.59 8544.60 b. Superlaidieji kompozitiniai laidininkai, susidedantys iš vienos ar daugiau superlaidžiųjų gyslų, neturinčių niobio ir titano, kurių charakteristikos tokios:

1.Krizinė temperatūra, esant nulinei magnetinei indukcijai, didesnė kaip 9,85 K (-263,310C), bet mažesnė nei 24 K (-249,160C);

2.Skerspjūvio plotas mažesnis kaip 0,28´10-4 mm2; ir 3. Superlaidžioji būsena išlieka 4,2 K (-268,960C) temperatūroje, veikiant magnetiniam laukui, kurio magnetinė indukcija lygi 12 T.

1C006 6. Skysčiai ir tepalinės medžiagos, tokios kaip: ex 3819.00 a. Hidrauliniai skysčiai, kurių pagrindiniai ingredientai yra bet kurie iš žemiau išvardytų junginių ar medžiagų:

1.Sintetinės angliavandenilinės alyvos ar silangliavandenilinės alyvos, kurių:

Pastaba:

1013.6. a.1 poreikiams skirtos silangliavandenilinės alyvos, sudarytos tik iš silicio, vandenilio ir anglies. a. Pliūpsnio temperatūra didesnė kaip 477 K (2040C); b. Stingimo temperatūra 239 K (-340C) ar mažesnė; c. Klampos rodiklis lygus 75 ar didesnis; ir d. Temperatūrinis (šiluminis) pastovumas 616 K (3430C) temperatūroje; arba ex 3819.00 2. Visai chlorfluorinti angliavandeniliai, kurių:

Pastaba:

1013.6. a.2 aptariami visai chlorfluorinti angliavandeniliai, sudaryti tik iš anglies, chloro ir fluoro. a. Pliūpsnio temperatūros nėra. b. Savaiminio užsiliepsniojimo temperatūra didesnė kaip 977 K (7040C); c. Stingimo temperatūra 219 K (-540C) ar mažesnė; d. Klampos rodiklis 80 ar didesnis; ir e. Virimo temperatūra 473 K (2000C) ar didesnė. ex 3208.90 ex 3403.19 ex 3403.99 ex 3823.19 b. Tepalai, kurių pagrindinis ingredientas – koks nors žemiau nurodytas junginys ar medžiaga:

1.Finilen- ar alkilfinileneteriai ar tioeteriai arba jų mišiniai, turintys daugiau kaip dvi eterines ar tioeterines grupes arba jų mišinį; arba 2. Floruotos silikoninės alyvos, kurių kinematinė klampa 298 K (250C) temperatūroje mažesnė kaip 5000 mm2/s (5000 centistoksų); c. Didesnio kaip 99,8% grynumo vilgymo ar flotavimo skysčiai, kurių 100 ml tūryje 200 mm ar didesnių matmenų dalelių yra mažiau kaip 25 ir kurių sudėtyje yra ne mažiau kaip 85% bet kurio iš žemiau nurodytų junginių ar medžiagų:

1.Dibromtetrafluoretano;

2.Polichlortrifluoretileno (tik alyvos bei vaško tipo modifikacijų); arba 3. Polibromtrifluoretileno.

Techninė pastaba:

Pagal 1013.6 parametrų nustatymas: a. Pliūpsnio temperatūra nustatoma ASTM D-92 dokumente ar nacionaliniame jo ekvivalente aprašytu Klyvlendo atvirojo indo metodu; b. Stingimo temperatūra nustatoma ASTM D-97 dokumente ar nacionaliniame jo ekvivalente aprašytu metodu; c. Klampos rodiklis nustatomas ASTM D-2270 dokumente ar nacionaliniame jo ekvivalente aprašytu metodu; d. Temperatūrinis (šiluminis) pastovumas nustatomas naudojant tokią bandymo procedūrą ar jos nacionalinį ekvivalentą:

20 ml tiriamojo skysčio įpilama į nerūdijančio 317 markės plieno 46 ml tūrio kamerą, į kurią įdėti trys 12,5 mm (vardinio) skersmens rutuliai: vienas pagamintas iš įrankinio plieno M-10, antrasis – iš 52100 markės plieno, trečiasis – iš laivų statybai naudojamos bronzos (60% Cu, 39% Zn, 0,75% Sn). Kamera prapučiama azotu, atmosferiniame slėgyje užsandarinama, temperatūra padidinama iki 644±6 K (371±60C) ir tokia išlaikoma šešias valandas. Bandinys laikomas termiškai pastovus, jei, užbaigus viršuje nurodytą procedūrą tenkinamos tokios sąlygos:

1.Kiekvieno rutulio masė sumažėja mažiau kaip 10 mg/mm2 rutulio paviršiaus;

2.311K (380C) temperatūroje nustatytas pradinės klampos pokytis yra mažesnis kaip 25 %, ir 3. Bendras rūgščių arba bazių skaičius yra mažesnis kaip 0,4. e. Savaiminio užsidegimo temperatūra yra nustatoma naudojant metodą, aprašytą ASTM D-659 dokumente ar jo nacionaliniame ekvivalente.

1C007 7. Pagrindinės keraminės medžiagos, nekompozicinės keraminės medžiagos, kompozicinės keraminių matricų medžiagos ir pradinės medžiagos, tokios kaip: ex 2850.00 a. Pagrindinės medžiagos iš paprasto ar kompleksinio titano borido, kuriose bendras metalinių priemaišų kiekis (išskyrus specialius priedus) yra mažesnis kaip 5000 md (milijoninių dalių). Vidutiniai priemaišų dalių matmenys lygūs ar mažesni kaip 5 mm, o didesnių kaip 10 mm dalelių gali būti ne daugiau kaip 10%. ex 6903.90 b. Žaliavų ar pusgaminių pavidalo nekompozicinės keraminės medžiagos, išskyrus abrazyvus, sudarytos iš titano boridų, kurių tankis sudaro 98% teorinio tankio ar yra didesnis. ex 3823.19 c. Keramika-keramika tipo kompozicinės medžiagos, kurių stiklo ar oksidų matrica, armuota bet kokiu pluoštu iš šių sistemų:

1.Si – N;

2.Si – C;

3.Si – Al – O – N, ar 4. Si – O – N. ex 6903.90 ex 6909.19 d. Keramika-keramika tipo kompozicinės medžiagos, kuriose gali būti ar nebūti ištisinė metalinė fazė, turinčios smulkiai disperguotų dalelių ar bet kokios pluoštinės ar ūsų tipo medžiagos fazių. Matricą čia sudaro silicio, cirkonio ar boro karbidai ar nitridai. ex 3911.90 e. Pradinės medžiagos (t. y. specialios paskirties polimerinės ar metaloorganinės medžiagos), skirtos kurios nors fazės ar fazių gamybai iš medžiagų, draudžiamų pagal 1013.7. c. Tai tokios medžiagos, kaip:

1.Polidiorganosilanai (silicio karbido gamybai);

2.Polisilazanai (silicio nitrido gamybai);

3.Polikarbosilazanai (keramikos su silicio, anglies ir azoto komponentais gamybai).

1C008 8. Befluorės polimerinės medžiagos, tokios kaip: ex 3911.90 a. 1. Bismaleimidai.

2.Aromatiniai poliamidimidai;

3.Aromatiniai poliimidai;

4.Aromatiniai polieterimidai, turintys stiklėjimo temperatūrą (Tg), išmatuotą šlapiuoju metodu, didesnę kaip 503 K (2300C):

Pastaba:

1013.8. a nedraudžia nelydžiųjų liejimo slegiant miltelių ar liejimo formų.

3907.91 b. Termoplastiniai skystakristaliai kopolimerai, kurių šiluminės deformacijos temperatūra, išmatuota laikantis ASTM D-648 A metodo arba jo nacionalinio ekvivalento reikalavimų (apkrova 1,82 N/mm2), yra didesnė kaip 523 K (2500C). Tokius kopolimerus sudaro:

1.Bet kuris iš žemiau nurodytų junginių: a. Fenilenas, bifenilenas ar naftalenas; arba b. Fenilenas, bifenilenas ar naftalenas su metil-, tret-butil- ar fenil- pakaitais.

2.Bet kuri žemiau nurodytų rūgščių: a. Tereftalio rūgštis; b. 6 – hidroksi-2-naftalenkarboksirūgštis; ar c. 4 – hidroksibenzenkarboksirūgštis; c. Poliarileniniai eteriniai ketonai, tokie kaip: ex 3907.20 ex 3911.90 1. Polieterinis ketoeteris (PEEK);

2.Polieterinis diketonas(PEKK);

3.Polieterinis ketonas (PEK);

4.Polieterinis ketonas eterinis diketonas (PEKEKK). ex 3911.90 d. Poliarilenketonai; e. Poliarilensulfidai, kuriuose arilen- grupė yra bifenilen-, trifenilen- ar jų deriniai; f. Polibifenileno eteriniai sulfonai.

1C009 9. Neperdirbti fluorinti junginiai, tokie kaip: ex 3904.69 a. Vinilidenfluorido kopolimerai, be ištempimo turintys 75 % ar daugiau beta kristalinės struktūros; ex 3911.90 b. Fluorinti poliimidai, turintys 30% ar daugiau surišto fluoro; ex 4002.99 c. Fluorinti fosfazeno elastomerai, turintys 30% ar daugiau surišto fluoro.

1C010 10. Pluoštinės ar filamentinės (gijinės) medžiagos, kurios gali būti panaudotos organinių matricų, metalinių matricų ar anglies matricų kompozitinėse struktūrose ar sluoksniuotosiose medžiagose (laminatuose). Tai tokios medžiagos kaip: ex 3916.90 ex 3920.99 5402.10 5402.20 5501.10 5501.20 ex 5501.90 5503.10 5503.20 ex 5503.90 a. Organinės pluoštinės ar filamentinės medžiagos (išskyrus polietileną), kurių:

1.Savitasis tamprumo modulis didesnis kaip 12,7´106 m; ir 2. Savitasis tempiamasis stipris didesnis kaip 23,5´104m;

6815.10 b. Anglies pluoštinės ar filamentinės medžiagos, kurių:

1.Savitasis tamprumo modulis didesnis kaip 12,7´106 m; ir 2. Savitasis tempiamasis stipris didesnis kaip 23,5´104m;

Techninė pastaba:

1013.10. b aprašytų medžiagų savybės turi būti nustatytos, naudojant SACMA rekomenduojamus SRM metodus (nuo 12 iki 17), arba remiantis ekvivalentiniu nacionaliniu standartu, panašiu į japonų pramonės standartą JIS – R – 7601 (6.6.2 paragrafas). Rezultatas turi būti didelio skaičiaus bandymų duomenų vidutinė vertė.

Pastaba:

1013.10. b nedraudžia dirbinių, pagamintų iš pluoštinių ar filamentinių medžiagų, skirtų orlaivių konstrukcijoms taisyti, ar sluoksniuotųjų medžiagų, kurių kiekvieno lapo matmenys ne didesni kaip 50 cm ´ 90 cm.

6815.10 ex 6815.99 ex 6903.90 ex 7019.19 c. Neorganinės pluoštinės ar filamentinės medžiagos, kurių parametrai tokie:

1.Savitasis tamprumo modulis didesnis kaip 2.54´106m; ir 2. Lydymosi, skilimo ar sublimavimosi temperatūra inertinėje aplinkoje didesnė kaip 1922 K (16490C).

Pastaba:

Pagal 1013.10. c nedraudžiami:

1.Netolydieji, daugiafaziai, polikristaliai aliuminio pluoštai štapeliniuose pluoštuose ar dembliuose, turintys 3 masės procentus ar daugiau kvarco ir savitąjį tamprumo modulį, mažesnį kaip 10´106m;

2.Molibdeno ir molibdeno lydinių pluoštai;

3.Boro pluoštai;

4.Netolydieji keraminiai pluoštai, kurių lydymosi, skilimo ar sublimavimosi temperatūra inertinėje aplinkoje mažesnė kaip 2043 K (17700C). ex 5402.49 ex 5501.90 ex 5503.90 d. Pluoštinės ar filamentinės medžiagos:

1.Sudarytos iš bet kurio žemiau nurodyto junginio: a. Polieterimidų, draudžiamų pagal 1013.8. a; arba b. Medžiagų, draudžiamų pagal 1013.8. b, c, d ar f; arba 2. Sudarytos iš medžiagų, draudžiamų pagal 1013.10. d.1. a ar b ir sumaišytų su kitais pluoštais, draudžiamais pagal 1013.10. a, b ar c;

5604.20 ex 5604.90 6815.10 e. Derva arba pikiu impregnuoti pluoštai (prepregai), metalu ar anglimi padengti pluoštai (ruošiniai) ar anglies pluošto ruošiniai, tokie kaip:

1.Pagaminti iš pluoštinių ar filamentinių medžiagų, draudžiamų 1013.10. a, b ar c.

2.Pagaminti iš organinių ar anglies pluoštinių ar filamentinų medžiagų: a. Kurių savitasis tempiamasis stipris didesnis kaip 17,7´104m; b. Kurių savitasis tamprumo modulis didesnis kaip 10,15´106m; c. Nedraudžiami pagal 1013.10. a ar b; ir d. Impregnuoti medžiagomis, draudžiamomis pagal 1013.8 ar 1013.9. b arba impregnuoti fenolinėmis arba epoksidinėmis dervomis, kurių stiklėjimo temperatūra (Tg) didesnė kaip 383 K (1100C).

Pastaba:

1013.10. a nedraudžia epoksidinės dervos matricų su impregnuotomis pluoštinėmis ar filamentinėmis medžiagomis (prepregais), skirtų orlaivių konstrukcijoms taisyti, arba sluoksniuotųjų plastikų, kuriuose atskiri prepregų lakštai ne didesni kaip 5 cm´90 cm.

Techninės pastabos:

1.Savitasis tamprumo modulis yra Jungo modulis, išreikštas paskaliais (atitinka N/m2), padalytas iš savitojo sunkio (N/m3), išmatuoto (296±2) K ((23±2)0C) temperatūroje, kai santykinis drėgnis (50±5)%.

2.Savitasis tempiamasis stipris yra ribinis tempiamasis stipris, išreikštas paskaliais (atitinka N/m2), padalytas iš tankio (N/m3), išmatuoto (296±2) K ((23±2)0C) temperatūroje, kai santykinis drėgnis (50±5)%. (Žr. 2-ąją techninę pastabą atominės energijos sąraše). ex 3704.00 ex 3705.20 ex 3705.90 ex 3706.10 ex 3706.90 ex 4901.10 ex 4901.99 ex 4906.00 ex 4911.91 ex 4911.99 ex 8471.90 ex 8473.30 ex 8524.39 ex 8524.40 ex 8524.91 ex 8524.99 ex 8542.13 ex 8542.19 ex 8542.90 1D 1014. Programinė įranga 1D001 1. Programinė įranga, specialiai sukurta ar pritaikyta pagal 1012 draudžiamai įrangai tobulinti, gaminti ar naudoti.

1D002 2. Programinė įranga organinių matricų, metalinių matricų ar anglies matricų sluoksniuotiesiems plastikams ar kompozitams tobulinti.

1E 1015. Technologijos 1E001 1. Technologijos, kurios remiantis bendruoju technologijų sąrašu naudojamos pagal 1011.1. b, 1011.1. c, 1011.2, 1011.3, 1012 ar 1013 draudžiamiems įrenginiams ar medžiagoms tobulinti ar gaminti;

1E002 2. Kitos technologijos, tokios kaip: a. Technologijos polibenztiazoliams ar polibenzoksazoliams tobulinti ar gaminti; b. Floroelastomerinių junginių, turinčių bent vieną vinileterio tipo monomerą, tobulinimo ir gamybos technologijos; c. Žemiau išvardytų pagrindinių medžiagų ar nekompozitinių keraminių medžiagų sukūrimo ar gamybos technologijos:

1.Pagrindinės medžiagos, kurioms būdingos visos žemiau nurodytos charakteristikos: a. Bet kuri iš šių kompozicijų:

1.Paprasti ar kompleksiniai cirkonio oksidai ir kompleksiniai silicio ar aliuminio oksidai;

2.Paprasti (kubinių kristalų pavidalo) boro nitridai;

3.Paprasti ar kompleksiniai silicio ar boro karbidai; arba 4. Paprasti ar kompleksiniai silicio nitridai; b. Bendras metalinių priemaišų, išskyrus specialiuosius priedus, kiekis mažesnis kaip:

1.1000 dalių milijonui (paprastuose oksiduose ar karbiduose); arba 2. 5000 dalių milijonui (kompleksiniuose junginiuose ar paprastuose nitriduose); ir c. 1. Vidutiniai dalelių matmenys lygūs ar mažesnis už 5 mm ir yra ne daugiau kaip 10% didesnių negu 10 mm dalelių; ar Pastaba:

Cirkonio diokside šios ribos yra atitinkamai 1 mm ir 5 mm;

2.a. Mažytės plokštelės, kurių ilgio ir storio santykis didesnis kaip 5; b. Ūsai, kurių ilgio ir skersmens santykis didesnis kaip 10 (kai skersmuo mažesnis kaip 2 mm); ir c. Ištisiniai ir štapeliniai pluoštai, kurių skersmuo mažesnis kaip 10 µm;

2.Nekompozitinės keraminės medžiagos (išskyrus abrazyvus), sudarytos iš 1015.2. c.1 aprašytų medžiagų; d. Aromatinių poliamidinių pluoštų gamybos technologijos; e. Pagal 1013.1 draudžiamų medžiagų įmontavimo, priežiūros ar taisymo technologijos; f. Pagal 1011.2, 1013.7. c ar 1013.7. d draudžiamų kompozitų, sluoksniuotųjų plastikų ar kitų medžiagų taisymo technologijos.

Pastaba:

1015.2. f nedraudžia technologijų, skirtų civilinių orlaivių konstrukcijų remontui, naudojant pluoštines ar filamentines anglies medžiagas ir epoksidines dervas, aprašytas orlaivių gamybos vadovėliuose.

1020. Medžiagų apdirbimas ir apdorojimas 2A 1021. Įranga, mazgai ir komponentai Antifrikciniai guoliai ar guolių sistemos ir jų komponentai, tokie kaip:

Pastaba:

1021 nedraudžia rutulinių guolių, kurių gamintojo nustatyti nuokrypiai (tolerancijos) atitinka ISO 3290 standarto 5-ąją ar žemesnę klasę. ex 8482.10 ex 8482.30 ex 8482.40 ex 8482.50 ex 8482.80 ex 8482.91 ex 8482.99 ex 8483.20 2A001 1. Rutuliniai ar kietieji ritininiai guoliai (išskyrus kūgiškuosius ritininius guolius), kurių gamintojo nustatyti nuokrypiai (tolerancijos) atitinka ABEC 7, ABEC 7P, ABEC 7T arba ISO standartų (ar jų nacionalinių ekvivalentų) 4-ąją ar aukštesnę klasę ir kuriuos apibūdina bet kuri iš žemiau išvardytų charakteristikų: a. Žiedai, rutuliai ar ritiniai, pagaminti iš monelmetalo (nikelio, vario ir aliuminio lydinių) ar berilio; b. Pagaminti naudoti didesnėje kaip 573 K (3000C) temperatūroje arba naudojant specialiąsias medžiagas ar specialų jų šiluminį (terminį) apdorojimą; ar c. Turintys taip modifikuotų tepimo elementų ar komponentų, kad pagal gamintojo specifikacijas yra specialiai suprojektuoti naudoti guolius, kai greičiai viršija 2,3 mln. DN. ex 8482.10 ex 8482.30 ex 8482.40 ex 8482.50 ex 8482.80 ex 8482.91 ex 8482.99 ex 8483.20 2A002 2. Kiti rutuliniai ar kietieji ritininiai guoliai (išskyrus kūgiškuosius ritininius guolius), kurių gamintojo nustatyti nuokrypiai (tolerancijos) atitinka ABEC 9, ABEC 9P ar ISO standarto (arba jų nacionalinio ekvivalento) 2-ąją ar aukštesnę klasę. ex 8482.20 ex 8482.91 ex 8482.99 ex 8483.20 2A003 3. Kieti kūgiškieji ritininiai guoliai, kurių gamintojo specifikuoti nuokrypiai (tolerancijos) atitinka ANSI/AFBMA 00 klasę (coliais) arba metrinę A ar aukštesnę klasę (arba jų nacionalinius ekvivalentus) ir kuriems būdinga viena iš dviejų charakteristikų: a. Turintys taip modifikuotų tepimo elementų ar komponentų, kad pagal gamintojo specifikacijas yra specialiai suprojektuoti naudoti guolius, kai greičiai viršija 2,3 mln. DN; arba b. Skirti naudoti žemesnėje kaip 219 K (-540C) ar aukštesnėje kaip 423K (1500C) temperatūroje. ex 8483.30 2A004 4. Dujomis tepami plėveliniai guoliai, skirti naudoti 561K (2880C) ar aukštesnėje temperatūroje, kai vienetinio ploto tepalo geba išlaikyti apkrovą didesnė kaip 1 MPa; ex 8483.30 2A005 5. Aktyviosios magnetinių guolių sistemos. ex 8483.30 2A006 6. Tekstotifiniai, su įdėklais ar slydimo kakliukais guoliai, skirti naudoti žemesnėje kaip 219 K (-540C) ar aukštesnėje kaip 423K (1500C) temperatūroje.

Techninės pastabos:

1.DN yra guolio kanalo skersmens (mm) ir guolio sukimosi greičio (rpm) sandauga.

2.Darbinė temperatūra yra guolio įgyta temperatūra, kai dujų turbinos variklis sustoja po darbo. (Apie tyliai dirbančius guolius žr. karinės technikos sąrašo 2009).

2B 1022. Bandymo, tikrinimo ir gamybos įranga Pastaba:

1022 nedraudžia interferometrinių matavimo sistemų, kuriose nėra uždarojo ar atvirojo grįžtamojo ryšio grandinių, turinčių lazerį, staklių, matmenų tikrinimo mašinų ar panašių įrenginių slydimo judesio paklaidoms matuoti. ex 8473.30 ex 8473.50 ex 8537.38 2B001 1. Skaitmeninio valdymo blokai, judesio valdymo pultai, specialiai sukonstruoti skaitmeninį valdymą pritaikyti staklėse, staklės ir specialiai joms suprojektuoti komponentai, kaip antai:

Techninės pastabos:

1.Antrinės lygiagrečiosios kontūrų sudarymo ašys, pvz., w ašis horizontaliojo ištekinimo staklėse ar antrinė sukimo ašis, kurios centro linija lygiagreti pirminei sukimo ašiai, neįskaičiuojamos į bendrą kontūrą sudarančių ašių skaičių.

Įsidėmėkite:

Sukimo ašių negalima sukti daugiau kaip 3600. Sukimosi ašis gali būti varoma linijiniu įtaisu, pvz., sraigtine ar krumpliastiebio – krumpliaračio pavara.

2.Ašių sąrašą nustato tarptautinis standartas ISO 841 „Skaitmeninio valdymo mašinos – Ašių ir judesių sąrašas (nomenklatūra)“. ex 8537.10 1. a. Staklių skaitmeninio valdymo blokai ir jiems sukurti komponentai, išvardyti žemiau:

Pastaba:

1022.1. a nedraudžia skaitmeninio valdymo blokų:

1.Modifikuotų nedraudžiamose mašinose; ar 2. Specialiai suprojektuotų nedraudžiamoms mašinoms.

1.a. 1. Turinčių daugiau kaip keturias interpoliavimo ašis, kurios gali būti vienu metu suderintos kontūriniam valdymui;

2.Turinčių dvi, tris ar keturias interpoliavimo ašis, kurios gali būti vienu metu suderintos kontūriniam valdymui ir: a. Apdirbimo operacijos metu gebančių realiajame laike apdoroti duomenis, siekiant pakeisti įrankio kelią, pastūmos (padavimo) greitį ir suklio duomenis, naudojant vieną iš dviejų būdų:

1.Dalies programos, skirtos apdirbti pagal dvi ar daugiau ašių, duomenų automatinius skaičiavimus ir modifikavimą ciklų matavimo ir kreipties į duomenų šaltinį būdu; arba 2. Prisitaikančiuoju valdymu, matuojant daugiau nei vieną fizikinį kintamąjį ir apdorojant kompiuterinio mode-liavimo būdu, leidžiančiu pakeisti vieną ar daugiau apdirbimo komandų, siekiant optimizuoti procesą. b. Galinčių tiesiogiai (online) gauti ir kompiuterinio projektavimo (CAD) būdu apdoroti duomenis vietinių mašininių kodų parengimui; arba c. Galinčių be pakeitimo, pagal gamintojo technines sąlygas, priimti papildomus pultus, kurie leistų padidinti virš 1022.1 draudžiamo lygio interpoliacinių ašių skaičių, kurios vienu metu gali būti suderintos kontūriniam valdymui net jei jos neturi šių papildomų pultų. ex 8537.10 ex 8538.90 1. b. Judesio valdymo pultai, specialiai suprojektuoti staklėms, turintys bet kurią iš šių charakteristikų:

1.Interpoliaciją daugiau kaip pagal keturias ašis;

2.Galintys dirbti tikralaikio apdorojimo būdu, kaip aprašyta 1022.1. a.2. a; ar 3. Galintys gauti ir apdoroti CAD duomenis, kaip aprašyta 1022.1. a.2. b. ex 8457.10-30 ex 8458.11 ex 8458.91 ex 8459.10-21 ex 8459.31 ex 8459.40-51 ex 8459.61 ex 8460.11 ex 8460.21 ex 8460.31 ex 8460.40 1. c. Žemiau išvardytos metalo, keramikos ar kompozitų apdorojimo staklės, kurios pagal gamintojo technines sąlygas gali būti aprūpintos elektroniniais įtaisais ir vienu metu gali būti suderintos kontūriniam valdymui pagal dvi ar daugiau ašių.

1.Tekinimo, šlifavimo, frezavimo staklės ar bet kuri jų kombinacija, kurios: a. Turi dvi ar daugiau ašių, kurios vienu metu gali būti suderintos kontūriniam valdymui; ir b. Turi bet kurią iš šių charakteristikų:

1.Vieną ar daugiau kontūrinių pasukimo ašių;

Techninė pastaba:

Koordinatinio šlifavimo staklėse c ašis, naudojama šlifavimo diskams išlaikyti statmenai detalės paviršiui, nelaikoma kontūrine pasukimo ašimi.

2.Vieną ar daugiau kontūrinių pakreipiamųjų suklių;

Pastaba:

1022.1. c.1. b.2 taikomas tik šlifavimo ir frezavimo staklėms.

3.Ašinis mušimas (ašinis poslinkis) vienam suklio apsisukimui mažesnis (tikslesnis) kaip 0,0006 mm viso indikatoriaus rodmens (TIR);

Pastaba:

1022.1. c.1. b.3 taikomas tik tekinimo staklėms.

4.Radialinis mušimas (nuokrypis nuo teisingo sukimosi) vienam suklio apsisukimui mažesnis (tikslesnis) kaip 0,0006 mm TIR.

5.Pozicionavimo tikslumas naudojant visas galimas kompensacijas yra geresnis kaip: a. 0,001° bet kuriai pasukimo ašiai; ar b. 1. 0,004 mm išilgai bet kurios linijinės ašies (bendras pozicionavimas) šlifavimo staklėms;

2.0,006 mm išilgai bet kurios linijinės ašies (bendras pozicionavimas) tekinimo ar frezavimo staklėms; ar Pastaba:

1022.1. c.1. b.5 nedraudžia frezavimo ar tekinimo staklių, kurių pozicionavimo tikslumas išilgai vienos ašies, įskaitant visas kompensacijas, lygus ar didesnis (blogesnis) kaip 0,005 mm.

Techninė pastaba:

Skaitmeninio valdymo staklių įrankių pozicionavimo tikslumas turi būti apibrėžiamas ir pateikiamas pagal ISO DIS 230/2 2.13 paragrafą, atsižvelgiant į žemiau nurodytus reikalavimus: a. Bandymo sąlygos (3-iasis paragrafas):

1.12 valandų prieš matavimą ir jo metu staklės ir tikslumo matavimo įranga turi būti laikomos toje pačioje aplinkos temperatūroje. Prieš pradedant matuoti, judamosios (slydimo) staklių dalys turi būti nuolat cikliškai judinamos tokiu pat būdu, kaip tai bus daroma matuojant tikslumą.

2.Staklės turi būti aprūpintos visomis mechaninėmis, elektroninėmis ar programinėmis kompensavimo priemonėmis, kurios bus eksportuojamos su staklėmis.

3.Matavimo įrangos tikslumas turi būti mažiausiai keturis kartus didesnis kaip tikimasis staklių tikslumas.

4.Slydimo pavarų maitinimo šaltinio parametrai turi būti tokie: a. Linijinės įtampos kitimas neturi viršyti ±10% vardinės įtampos vertės; b. Dažnio kitimas neturi viršyti ±2 Hz vardinio dažnio; c. Neleidžiama išjungti linijos ar pertraukti energijos tiekimo. b. Bandymo programa (4 paragrafas):

1.Matavimo metu pastūmos (slydimo) greitis turi būti lygus didžiausiajam skersinės pastūmos greičiui.

Įsidėmėkite:

Staklių, kurios formuoja veidrodinius (optinės kokybės) paviršius, pastūmos greitis turi būti lygus arba mažesnis kaip 50 mm per minutę.

2.Matavimas turi būti atliktas didėjimo būdu, pereinant nuo vienos ašies kelio ribos prie kitos, negrįžtant į pradinę padėtį kiekvienos eigos į galinį tikslo tašką metu;

3.Ašies bandymų metu nematuojamos ašys turi būti išlaikomos kelio viduryje. c. Tikrinimo (matavimo) rezultatų pateikimas (2 paragrafas). Matavimo rezultatai turi būti apibūdinti:

1.Pozicionavimo tikslumu (A); ir 2. Vidutine reverso (krypties pakeitimo) paklaida (B).

1.c. 1. b. 6. a. Pozicionavimo tikslumas mažesnis (geresnis) kaip 0,007 mm; ir b. Slydimo poslinkis iš ramybės būsenos visiems slydimo judesiams neviršijant 20% įvadinės judesio komandos vertės; ši vertė lygi mažiausiai 0,5 mm.

Techninė pastaba:

Mažiausias bandomojo judesio žingsnis (slydimo judesys iš ramybės būsenos):

Bandymas atliekamas tik staklėms, jei jos aprūpintos valdymo įtaisu, kurio žingsnio (padalos) vertė mažesnė (geresnė) kaip 0,5 mm.

Bandymams mašina parengiama pagal ISO 230/2 3.1, 3.2, 3.3 paragrafus.

Bandymus atlikti pagal kiekvieną mašinos įrankio ašį (slydimo kryptį), kaip nurodoma toliau: a. Pastumti ašį daugiau kaip 50% didžiausios eigos, pirmyn ir atgal du kartus, esant didžiausiam pastūmos greičiui, didžiausiam reverso greičiui ar lėtai valdomai pastūmai; b. Palaukti mažiausiai 10 sekundžių; c. Rankiniu duomenų įvedimo būdu iš valdymo įtaiso įvesti mažiausiąjį programuojamąjį žingsnį; d. Išmatuoti ašies judėjimą; e. Ištrinti valdymo įtaisą servo nulio, grįžimo į nulį ar bet kokiu kitu ištrynimo signalu (įtampa) automatiniame reguliavimo sistemos kontūre; f. Penkis kartus pakartoti žingsnius nuo 2-ojo iki 5-ojo, du kartus ta pačia ašies eigos kryptimi ir tris kartus priešinga eigos kryptimi, iš viso šešiems bandymo taškams; g. Jei ašies judesys yra tarp 80% ir 120% mažiausiojo programuojamojo įvadinio judesio vertės keturiems iš šešių bandymo taškų, staklėms uždedamas embargas.

Pasukimo ašims matavimas atliekamas 200 mm atstumu nuo sukimosi centro.

Pastabos:

1.1022.1. c.1 nedraudžia apvaliojo išorinio, vidinio ir išorinio-vidinio šlifavimo staklių, turinčių visas žemiau išvardytas charakteristikas: a. Ne becentrio (atramų tipo) šlifavimo staklių; b. Skirtų tik cilindriniam šlifavimui; c. Skirtų didžiausiam išoriniam ruošinio skersmeniui ar ilgiui, lygiam 150 mm. d. Turinčių tik dvi ašis, kurios vienu metu gali būti suderintos kontūriniam valdymui; ir e. Ne kontūrinio valdymo c ašį.

2.1022.1. c.1 nedraudžia mašinų, suprojektuotų kaip koordinatinio šlifavimo staklės, turinčios abi iš šių charakteristikų: a. Ašys apribotos x, y, c ir a ašimis, kur c ašis naudojama palaikyti šlifavimo diską statmenai dirbinio paviršiui, o a ašis yra skirta būgnų kumšteliams šlifuoti; ir b. Suklys muša (nukrypsta) ne mažiau kaip 0,0006 mm.

3.1022.1. c.1 nedraudžia įrankių ar galandimo staklių, turinčių visas žemiau nurodytas charakteristikas: a. Siunčiamos kaip viena sistema su programine įranga, specialiai sukurta įrankiams ar pjovikliams gaminti; b. Ne daugiau kaip dviejų pasukimo ašių, kurios vienu metu gali būti suderintos kontūriniam valdymui; c. Radialinis mušimas (nuokrypis nuo teisingo sukimosi) vienam suklio apsisukimui ne mažesnis kaip 0,0006 mm TIR; ir d. Pozicionavimo tikslumas, įskaitant visas galimas kompensacijas, ne mažesnis kaip:

1.0,004 mm išilgai bet kurios ašies bendram pozicionavimui; ar 2. 0,001° bet kuriai pasukimo ašiai. ex 8456.30 1. c. 2. Vielinio elektrodo tipo elektroerozinės staklės (EES), kurios turi penkias ar daugiau ašių, kurios vienu metu gali būti suderintos kontūriniam valdymui.

3.Nevielinio elektrodo tipo elektroerozinės staklės, turinčios dvi ar daugiau pasukimo ašių, kurios vienu metu gali būti suderintos kontūriniam valdymui. ex 8424.30 ex 8456.10 ex 8456.99 4. Staklės metalų, keramikos ar kompozitų paviršiams valyti: a. Naudojant tokius būdus:

1.Vandens ar kitų skysčių čiurkšlę, įskaitant turinčią abrazyvo priedų;

2.Elektroninį pluoštą; ar 3. Lazerio pluoštą; ir b. Turinčios dvi ar daugiau pasukimo ašių, kurios:

1.Vienu metu gali būti suderintos kontūriniam valdymui; ir 2. Turinčios pozicionavimo tikslumą, mažesnį (geresnį) nei 0,003°:

Techninė pastaba:

Staklės, kurias galima vienu metu suderinti kontūriniam valdymui pagal dvi ar daugiau pasukimo ašių ir vieną ar daugiau pakreipiamų suklių, pasilieka uždraustos nepriklausomai nuo vienu metu suderintų kontūrinių ašių, kurios gali būti valdomos skaitmeninio valdymo įrenginiu, prijungtu prie staklių, skaičiaus.

2B002 2. Žemiau išvardytos ne skaitmeninio valdymo staklės veidrodinės kokybės paviršiams sudaryti: ex 8458.19 ex 8458.99 ex 8464.90 ex 8465.99 ex 8479.89 a. Tekinimo staklės, naudojančios vienos galvutės pjovimo įrankį ir turinčios visas iš šių charakteristikų:

1.Slydimo judesio pozicionavimo tikslumą, mažesnį (geresnį) kaip 0,0005 mm 300 mm eigai;

2.Dvikrypčio slydimo pozicionavimo kartojamumą, mažesnį (geresnį) kaip 0,00025 mm 300 mm eigai;

3.Radialinį ir ašinį suklio mušimą, mažesnį kaip 0,0004 mm TIR;

4.Slydimo judesio kampinį nuokrypį (išilginius svyravimus, pokrypius ir skersinius svyravimus), mažesnį (geresnį) kaip 2 kampinės sekundės TIR visoje eigoje; ir 5. Slydimo statmenumą, mažesnį (geresnį) kaip 0,001 mm 300 mm eigoje.

Techninė pastaba:

Dvikrypčio slydimo pozicionavimo kartojamumas (R) ašies atžvilgiu yra didžiausia pozicionavimo kartojamumo vertė bet kurioje padėtyje išilgai ar aplink ašį, nustatyta naudojant procedūrą ir sąlygas, nurodytas standarto ISO 230/2: 1988 2.11 dalyje. ex 8464.90 ex 8479.89 b. Staklės, dirbančios vienadante freza, turinčios abi nurodytas charakteristikas:

1.Radialinį ir ašinį suklio mušimą, mažesnį (geresnį) kaip 0,0004 mm TIR; ir 2. Kampinį slydimo judesio nuokrypį (išilginiai svyravimai, pokrypiai ir skersiniai svyravimai), mažesnį (geresnį) kaip 2 kampinės sekundės TIR visoje eigoje; ex 8456.10 ex 8456.30 ex 8456.90 ex 8457.30 ex 8461.40 2B003 3. Skaitmeninio valdymo ar rankinio valdymo staklės, specialiai sukonstruotos bet kurių iš žemiau nurodytų klasių kūginių ar cilindrinių grūdintų (Rc = 40 ar daugiau) krumpliaračių pjovimui, išbaigimui, šlifavimui ar honingavimui, ir specialiai joms sukonstruoti komponentai, valdymo organai bei priedai: ex 8456.10 ex 8456.30 ex 8456.90 ex 8457.30 ex 8461.40 a. Grūdintiems kūginiams krumpliaračiams, išbaigtiems iki kokybės, geresnės nei AGMA13 (ekvivalentiška standarto ISO 1328 klasei 4); ar ex 8456.10 ex 8456.30 ex 8456.90 ex 8457.30 ex 8461.40 b. Grūdintiems tiesiakrumpliams, sraigtiniams ir eglutiniams krumpliaračiams, kurių dalijimo skersmuo viršija 1250 mm ir vainiko plotis lygus 15% dalijamojo skersmens arba didesnis, išbaigtiems iki kokybės AGMA 14 ar geresnės (ekvivalentiška ISO 1328 klasei 3);

2B004 4. Karštieji izostatiniai presai, išvardyti žemiau, ir specialiai jiems suprojektuoti štampai, formos, komponentai, priedai ir valdymo įtaisai: ex 8462.91 ex 8462.99 ex 8466.94 ex 8474.80-90 ex 8479.89-90 ex 8480.41-60 ex 8537.10-20 a. Turintys valdomą šiluminę aplinką uždaroje ertmėje ir 406 mm ar didesnio vidinio skersmens kameros ertmę; ir ex 8462.91 ex 8462.99 ex 8466.94 ex 8474.80-90 ex 8479.89-90 ex 8480.41-60 ex 8537.10-20 b. Turintys:

1.Didžiausią darbinį slėgį, viršijantį 207 MPa;

2.Valdomą šiluminę aplinką, viršijančią 1773 K (15000C); ar 3. Priemones angliavandeniliniam įmirkimui ir susidarančių dujų skilimo produktų pašalinimui.

Techninė pastaba:

Vidiniais kameros matmenimis yra vadinami matmenys tokios kameros, kurioje kartu pasiekiama darbinė temperatūra ir darbinis slėgis ir kurioje neįskaitomi vidiniai tvirtikliai. Šie matmenys turi būti mažesni už vidinį slėgio kameros skersmenį arba už vidinį izoliuotosios krosnies kameros skersmenį, atsižvelgiant į tai, kuri kamera yra kitos viduje. ex 8428.39 ex 8537.10 ex 9031.80 2B005 5. Įranga, specialiai suprojektuota neorganinėms dangoms nusodinti, apdoroti ir gamybos metu kontroliuoti, sluoksniams ir paviršiams modifikuoti, naudojant procesus, nurodytus lentelėje ir su ja susijusiose pastabose, esančiose 1025.3. d, ir specialiai jai suprojektuoti automatizuotojo perkėlimo, pozicionavimo, manipuliavimo ir kontrolės komponentai: a. Programinio valdymo gamybos įranga, naudojanti cheminį garų nusodinimą (CVD), su abiem procesais:

1.Procesų, pakeistų vienam iš nusodinimų: ex 8417.80 ex 8419.89 ex 8514.30 a. Pulsuojančiajam cheminiam garų nusodinimui; ex 8514.30 b. Valdomajam šiluminiam užuomazgų susidarymo skilimui (CNTD); ar ex 8543.89 c. Plazma sustiprintam ar plazma skatinamam CVD; ir ex 8543.89 2. Bet kurį iš žemiau išvardytų: a. Naudojantį didelio vakuumo (lygaus ar mažesnio kaip 0,01 Pa) besisukančius sandariklius; arba b. Naudojantį dangos storio kontrolę gamybos metu; b. Programinio valdymo jonų implantavimo įranga su 5 mA ar didesne pluošto srove; c. Programinio valdymo elektronpluoštė fizikinio garų nusodinimo (EB – PVD) gamybos įranga, įskaitant:

1.Galios sistemas, kurių vardinė galia didesnė kaip 80 kW;

2.Skysčio lygio vonioje lazerinę kontrolės sistemą, kuri tiksliai reguliuoja luitų padavimo greitį; ir 3. Kompiuteriu valdomos spartos kontrolinį matavimo įrenginį, veikiantį išgarintojo pluošto jonizuotų atomų fotoliuminiscencijos principu, siekiant valdyti dangos, susidedančios iš dviejų ar daugiau elementų, nusodinimo spartą; d. Programinio valdymo plazminio pulverizavimo gamybos įranga, turinti vieną iš dviejų išvardytų charakteristikų:

1.Veikianti sumažinto slėgio valdomosios atmosferos (lygaus ar mažesnio kaip 10 kPa, išmatuoto 300 mm ir didesniame nuotolyje nuo pulverizatoriaus purkštuko išėjimo) vakuuminėje kameroje, kurioje slėgį galima sumažinti iki 0,01 Pa prieš išpurškimo procesą; ar 2. Turinti dangos storio kontrolės sistemą gamybos metu. e. Programinio valdymo nusodinimo dulkinimo būdu gamybos įranga, kurios srovės tankis 0,1 mA/mm2 ar didesnis, kai nusodinimo sparta 15 mm/val. ar didesnė. f. Programinio valdymo katodinio lankinio nusodinimo gamybos įranga, turinti elektromagnetinį tinklelį lanko dėmei katode valdyti. g. Programinio joninio metalizavimo gamybos įranga, leidžianti vietoje išmatuoti:

1.Dangos storį ant padėklo ir kontroliuoti padengimo spartą; ar 2. Optines charakteristikas.

Pastaba:

1022.5. g nedraudžia standartinės joninio metalizavimo įrangos pjovimo ar apdirbimo įrankiams. ex 9031.80 2B006 6. Matmenų tikrinimo ar matavimo sistemos ar įranga, išvardyta žemiau: a. Kompiuteriais valdomos, skaitmeninio valdymo ar programinio valdymo matmenų tikrinimo mašinos, turinčios abi iš šių charakteristikų:

1.Dvi ar daugiau ašių; ir:

2.Vienmačio ilgio matavimo neapibrėžtį, lygią ar mažesnę kaip (1,25+L/1000) mm, bandant bandiklių tikslumą, kuris mažesnis (geresnis) kaip 0,2 mm (L yra matuojamas ilgis, mm). b. Linijinio ar kampinio poslinkio matuokliai, išvardyti žemiau:

1.Linijinio matavimo įrankiai, turintys bet kurią iš šių charakteristikų: a. Nesąlytinės matavimo sistemos, kurių skiriamoji geba lygi ar mažesnė (geresnė) kaip 0,2 mm matavimo srityje iki 0,2 mm; b. Tiesinės skirtuminio keitimo sistemos, pasižyminčios abiem šiomis charakteristikomis:

1.Tiesiškumu, lygiu ar mažesniu (geresniu) nei 0,1% matavimo srityje iki 5 mm; ir 2. Kaitumu (dreifu), lygiu arba mažesniu (geresniu) kaip 0,1% per dieną, kai temperatūra lygi standartu numatytai bandymų patalpos aplinkos temperatūrai ±1 K; ar c. Matavimo sistemos, turinčios abi iš šių charakteristikų:

1.Turinčios lazerį; ir 2. Išlaikančios, mažiausiai 12 val., temperatūroje, kuri nukrypsta ±1 K nuo standartinės temperatūros ir esant standartiniam slėgiui: a. Skiriamąją gebą visoje skalėje, lygią 0,1 mm ar mažesnę (geresnę); ir b. Matavimo neapibrėžtį, lygią ar mažesnę (geresnę) kaip (0,2+L/2000) mm (L yra matuojamas ilgis, mm).

2.Kampų matuokliai, turintys kampinės padėties nuokrypį, lygų ar mažesnį (geresnį) kaip 0,00025°.

Pastaba:

1022.6. b.2 nedraudžia optinių įtaisų (tokių kaip autokolimatoriai), naudojančių kolimuotą šviesą kampiniam veidrodžio poslinkiui aptikti. c. Sistemos vienalaikiam linijiniam ir kampiniam puskevalių tikrinimui, turinčios abi šias charakteristikas:

1.Matavimo neapibrėžtį išilgai bet kurios linijinės ašies, lygią ar mažesnę (geresnę) kaip 3,5 mm 5 mm ilgyje; ir 2. Kampinės padėties nuokrypį, lygų ar mažesnį (geresnį) kaip 0,02°. ex 9031.49 ex 9031.80 d. Įranga paviršiaus nelygumams matuoti, naudojant optinę (šviesos) sklaidos kaip kampo funkciją, kurios jautris lygus 0,5 nm ar mažesnis (geresnis);

Techninės pastabos:

1.Bandiklis, naudojamas matmenų tikrinimo sistemos matavimo neapibrėžčiai nustatyti, turi būti toks, kaip aprašyta VDI/VDE 2617 2, 3 ir 4 dalyje.

2.Visos 1022.6 matuojamos vertės vaizduoja leistinąjį teigiamą ir neigiamą nuokrypį nuo užsibrėžtosios vertės, t. y. ne visos srities.

Pastabos:

1.Staklės, kurios gali būti naudojamos kaip matavimo mašinos, yra draudžiamos, jei jos tenkina ar viršija kriterijus, nurodytus staklėms ar matavimo mašinoms.

2.1022.6 aprašytos mašinos yra draudžiamos, jei jos viršija draudimo slenkstį bet kurioje jų veikimo srityje. ex 8479.89 ex 8479.90 ex 8537.10 2B007 7. Robotai, išvardyti žemiau, ir specialiai suprojektuoti valdikliai bei darbiniai jų organai: a. Gebantys realiajame laike apdoroti visą trimatį vaizdą ar atlikti visos trimatės aplinkos analizę, siekiant generuoti ar pakeisti programas ar generuoti ar pakeisti skaitmeninės programos duomenis;

Pastaba:

Aplinkos analizės apribojimai neįskaito trečiojo matmens (koordinatės) aproksimacijos, apžiūrint pagal užsibrėžtą kampą ar apriboja pilkosios skalės interpretavimą įvertinant tiriamųjų objektų gylį ar tekstūrą. b. Remiantis nacionaliniais saugos standartais, specialiai suprojektuoti robotai, naudojami sprogiosios amunicijos aplinkose; ar c. Specialiai suprojektuoti ar normuoti kaip atsparūs spinduliuotei (radiacijai) ir gebantys atlaikyti didesnę už normalią pramoninę (t. y. neatominės pramonės) jonizuojančiąją spinduliuotę.

2B008 8. Mazgai, įtaisai ar jų dalys, specialiai suprojektuoti staklėms ar įrangai, kuri draudžiama pagal 1022.6 ar 7: ex 8466.93 a. Suklių junginiai, susidedantys iš suklių ir guolių, kaip mažiausių mazgų su radialiniu mušimu ar ašiniu mušimu vienam suklio apsisukimui, mažesniu (geresniu) kaip 0,0006 mm TIR; ex 9031.49 ex 9031.80 ex 9031.90 b. Tiesinio pozicionavimo blokai su grįžtamuoju ryšiu (t. y. induktyvieji įtaisai, graduotosios skalės, infraraudonosios spinduliuotės ar lazerinės sistemos), turinčios visuminį tikslumą, mažesnį (geresnį) kaip (800+(600´L´10-3) nm (L – efektyvusis ilgis, mm). ex 9031.49 ex 9031.80 ex 9031.90 c. Pasukimo pozicionavimo blokai su grįžtamuoju ryšiu, t. y. induktyvieji įtaisai, graduotosios skalės, infraraudonosios spinduliuotės ar lazerinės sistemos, turinčios tikslumą, mažesnį (geresnį) kaip 0,00025°; ex 8466.93 d. Slydimo kreipiamųjų mazgai, turintys mažiausią mazgą, sudarytą iš kreipiamosios, stovo ir pavažos, apibūdinami visomis šiomis charakteristikomis:

1.Išilginiu svyravimu, pokrypiu ir skersiniu svyravimu, mažesniu (geresniu) kaip 2 kampo sekundės TIR (nuoroda: ISO/DIS 230/1) per visą eigą;

2.Horizontaliuoju tiesiškumu, mažesniu (geresniu) kaip 2 mm 300 mm ilgyje; ir 3. Vertikaliuoju tiesiškumu, mažesniu (geresniu) kaip 2 mm 300 mm ilgyje. ex 7102.29 e. Vienos galvutės deimantiniai pjovimo įrankiai, turintys visas iš šių charakteristikų:

1.Pjovimo briaunos be įtrūkimų ir atplaišų, kai didinimas bet kuria kryptimi lygus 400;

2.Pjovimo spindulys kinta nuo 0,1 iki 5 mm imtinai; ir 3. Pjovimo spindulio neapskritumas mažesnis kaip 0,002 mm TIR; ex 8466.93 ex 8537.10 ex 8538.90 2B009 9. Specialiai suprojektuotos spausdintinės plokštės su joms skirtais komponentais ir programine įranga ar sudėtiniai pasukamieji stalai, ar pasukami sukliai, kuriuos galima modernizuoti pagal gamintojo technines sąlygas, ar skaitmeninio valdymo blokai, staklės ar grįžtamojo ryšio įtaisai, siekiantys ar viršijantys lygius, nurodytus 1022 kategorijoje.

2C 1023. Medžiagos – nėra Žr. 1D 2D 1024. Programinė įranga 2D001 1. Specialiai sukurta ar pakeista programinė įranga, skirta pagal 1021 ar 1022 draudžiamai įrangai tobulinti, gaminti ar naudoti;

2D002 2. Savitoji programinė įranga, išvardyta žemiau: a. Programinė įranga, skirta prisitaikančiajam valdymui ir turinti abi šias charakteristikas:

1.Tinkanti lanksčiosios gamybos sistemoms (FMUs), kurios susideda mažiausiai iš įrangos, aprašytos lanksčiosios gamybos sistemų apibrėžimo b.1 ir b.2 punktuose; ir 2. Gebanti generuoti ar pakeisti (modifikuoti) apdorojimo realiajame laike būdu programas ar duomenis, naudojant vienu metu gautus signalus mažiausiai iš dviejų techninių aptikimo priemonių, tokių kaip: a. Mašininė rega (optinis nuotolio matavimas); b. Infraraudonasis atvaizdavimas; c. Akustinis atvaizdavimas (akustinis nuotolio matavimas); d. Liečiamasis matavimas; e. Inercinis pozicionavimas; f. Jėgos matavimas; g. Sukimo momento matavimas.

Pastaba:

1024.2. a nedraudžia programinės įrangos, kuri tik išskaido funkciškai panašią (analogišką) įrangą lanksčiosios gamybos sistemos viduje, naudojant atsargines (iš anksto sukauptas dalines) programas ir strategiją programos dalims paskirstyti. b. Programinė įranga elektroniniams įtaisams, kitokiems nei aprašyti 1022.1. a ar b, kuri suteikia skaitmeninio valdymo galimybę pagal 1022.1 draudžiamai įrangai.

Pastaba:

1022.1 ir 1024.2 nedraudžia kokio nors elektroninių įtaisų ar sistemų derinio, kuriame yra bendra programinė įranga, įgalinanti tokius įtaisus ar sistemas veikti kaip CNC, kuri vienu metu suderina kontūriniam valdymui daugiau kaip 4 ašis.

2E 1025. Technologija 2E001 1. Technologija pagal bendrąjį technologijų sąrašą 1021, 1022 ar 1024 draudžiamai techninei ar programinei įrangai tobulinti.

2E002 2. Technologija pagal bendrąjį technologijų sąrašą 1021 ar 1022 draudžiamai įrangai gaminti.

2E003 3. Kitos technologijos, kaip antai: a. Technologija:

1.Interaktyviajai grafikai, kaip sudėtinei skaitmeninio valdymo įtaisų programų parengimo ar pakeitimo daliai, tobulinti;

2.Staklių instrukcijų generatorių (t. y., programų dalių) tobulinimui naudojant projektavimo duomenis, esančius skaitmeninio valdymo blokuose;

3.Įterptiniams programiniams moduliams, įvedamiems į ekspertines sistemas, tobulinti siekiant paremti tobulesnes cechines operacijas skaitmeninio valdymo blokuose. b. Metalo apdirbimo technologijos, kaip antai:

1.Įrankių, štampų ar tvirtiklių (tvirtinimo įtaisų), specialiai sukonstruotų žemiau išvardytiems procesams atlikti, projektavimo technologija: a. Superplastiniam formavimui; b. Difuziniam suvirinimui; c. Tiesioginio veikimo hidrauliniam presavimui.

2.Techniniai duomenys, susiję su procesų realizavimo metodais ar parametrais, išvardytais žemiau, naudojami valdyti: a. Aliuminio lydinių, titano lydinių ar superlydinių superplastinį formavimą:

1.Paviršių paruošimą;

2.Įtempių vertes;

3.Temperatūrą;

4.Slėgį. b. Superlydinių ar titano lydinių difuzinį suvirinimą:

1.Paviršių paruošimą;

2.Temperatūrą;

3.Slėgį. c. Aliuminio ar titano lydinių tiesioginį hidraulinį presavimą:

1.Slėgį;

2.Ciklo trukmę; d. Titano lydinių, aliuminio lydinių ar superlydinių karštąjį izostatinį tankinimą:

1.Temperatūrą;

2.Slėgį;

3.Ciklo trukmę. c. Technologija hidraulinėms štampavimo mašinoms ir jų štampams, skirtiems skraidymo aparatų konstrukcijoms tobulinti ar gaminti; d. Technologijos:

Neorganinėms dangoms uždėti ar neorganiniams paviršiams, nurodytiems lentelės „Dengimo technika“3-iojoje skiltyje, pakeisti (modifikuoti): a. Neelektroniniams padėklams, nurodytiems lentelės „Dengimo technika“ 2-ojoje skiltyje; b. Naudojant procesus, nurodytus lentelės „Dengimo technika“ 1-ojoje skiltyje ir apibrėžtus techninėje pastaboje. e. Technologijos:

Taikomos neorganinių sluoksnių dangoms ar neorganinių paviršių pakeitimo dangoms, nurodytoms lentelės „Dengimo technika“ 3-iojoje skiltyje: a. Neelektroniniams padėklams, nurodytiems lentelės „Dengimo technika“ 2-ojoje skiltyje; b. Naudojant procesus, nurodytus lentelės „Dengimo technika“ 1-ojoje skiltyje ir apibrėžtus techninėje pastaboje.

Dengimo technika Dengimo proceso (1)* pavadinimas Dangos padėklas Danga A.

Cheminis nusodinimas iš garų fazės (CVD) Superlydiniai Aliuminidai vidiniams kanalams Keramika ir mažai plėtrūs stiklai (14) Silicidai Karbidai Dielektriniai sluoksniai (15) Anglis-anglis, keraminės ir metalinės matricos kompozitai Silicidai Karbidai Sunkialydžiai metalai Aukščiau nurodytų medžiagų mišiniai (4) Dielektriniai sluoksniai (15) Aliuminidai Aliuminidų lydiniai (2) Cementuotas volframo karbidas (16), Silicio karbidas Karbidai Volframas Aukščiau nurodytų medžiagų mišiniai (4).

Dielektriniai sluoksniai (15) Molibdenas ir molibdeno lydiniai Berilis ir berilio lydiniai Jutiklių langelių medžiagos (9).

Dielektriniai sluoksniai (15) Dielektriniai sluoksniai (15) Dielektriniai sluoksniai (15) B.

Fizikinis nusodinimas iš garų fazės: šiluminio (terminio) gaminimo metodas (TE-PVD) 1. Fizikinis nusodinimas iš garų fazės (PVD): elektronų pluošto metodas (EB-PVD) Superlydiniai Silicidų lydiniai Aliuminidų lydiniai (2) MCrAlX (5) Modifikuotas cirkonio dioksidas (12) Silicidai Aliuminidai Aukščiau nurodytų medžiagų mišiniai (4) Keramika ir mažai plėtrūs stiklai (14) Dielektriniai sluoksniai (15) Korozijai atsparus plienas (7) MCrAlX(5) Modifikuotas cirkonio dioksidas(12) Aukščiau nurodytų medžiagų mišiniai(4) Anglis-anglis, keraminės ir metalinės matricos kompozitai Silicidai Karbidai Sunkialydžiai metalai Aukščiau nurodytų medžiagų mišiniai (4) Dielektriniai sluoksniai (15) Cementuotas volframo karbidas (16), Silicio karbidas Karbidai Volframas Aukščiau nurodytų medžiagų mišiniai (4) Dielektriniai sluoksniai (15) Molibdenas ir molibdeno lydiniai Berilis ir berilio lydiniai Jutiklių langelių medžiagos (9) Titano lydiniai (13) Dielektriniai sluoksniai (15) Dielektriniai sluoksniai (15) Dielektriniai sluoksniai (15) Boridai Nitridai 2. Fizikinis nusodinimas iš garų fazės jonizuojant varžiniu kaitinimu (joninio nusodinimo metodas) Keramika ir mažai plėtrūs stiklai (14) Dielektriniai sluoksniai (15) Anglis-anglis, keraminės ir metalinės matricos kompozitai Dielektriniai sluoksniai (15) Cementuotas volframo karbidas (16), silicio karbidas Dielektriniai sluoksniai (15) Molibdenas ir molibdeno lydiniai Dielektriniai sluoksniai (15) Berilis ir berilio lydiniai Dielektriniai sluoksniai (15) Jutiklių langelių medžiagos (9) Dielektriniai sluoksniai (15) 3. Fizikinis nusodinimas iš garų fazės: lazerinio garinimo metodas Keramika ir mažai plėtrūs stiklai (14) Silicidai Dielektriniai sluoksniai (15) Anglis-anglis, keramika ir metalinės matricos kompozitai Dielektriniai sluoksniai (15) Cementuotas volframo karbidas (16), Silicio karbidas Dielektriniai sluoksniai (15) Molibdenas ir molibdeno lydiniai Dielektriniai sluoksniai (15) Berilis ir berilio lydiniai Dielektriniai sluoksniai (15) Jutiklių langelių medžiagos (9) Dielektriniai sluoksniai (15) Deimanto tipo anglis 4. Fizikinis nusodinimas iš garų fazės: katodinio lankinio išlydžio metodas Superlydiniai Silicidų lydiniai Aliuminidų lydiniai (2) MCrAlX (5) Polimerai (11) ir organiniai matriciniai kompozitai Boridai Karbidai Nitridai C.

Modulinis cementavimas (10) (minimas A skyriuje) Anglis-anglis, keraminės ir metalinės matricos kompozitai Silicidai Karbidai Aukščiau nurodytų medžiagų mišiniai (4) Titano lydiniai (13) Silicidai Aliuminidai Aliuminidų lydiniai (2) Ugniai atsparūs metalai ir lydiniai (8) Silicidai Oksidai D.

Plazminis užpurškimas Superlydiniai MCrAlX (5) Modifikuotas cirkonio dioksidas (12) Aukščiau nurodytų medžiagų mišiniai (4) Dilimui atsparus nikelis-grafitas Dilimui atsparus Ni-Cr-Al-bentonitas Dilimui atsparus Al-Si-poliesteris Aliuminidų lydiniai (2) Aliuminio lydiniai (6) MCrAlX (5) Modifikuotas cirkonio dioksidas (12) Silicidai Aukščiau nurodytų medžiagų mišiniai (4) Ugniai atsparūs metalai ir lydiniai (8) Aliuminidai Silicidai Karbidai Korozijai atsparus plienas (7) Modifikuotas cirkonio dioksidas (12) Aukščiau nurodytų medžiagų mišiniai (4) Titano lydiniai (13) Karbidai Aliuminidai Silicidai Aliuminidų lydiniai (2) Dilimui atsparus nikelis-grafitas Dilimui atsparus Ni-Cr-Al-benitonitas Dilimui atsparus Al-Si- poliesteras E.

Suspensinis dengimas ir lydiniai (8) Sunkialydžiai metalai Aplydyti silicidai Aplydyti aliuminidai, išskyrus tuos, kurie naudojami varžiniams kaitinimo elementams Anglis-anglis, keraminės ir metalinės matricos kompozitai Silicidai Karbidai Aukščiau nurodytų medžiagų mišiniai (4) F.

Dulkinamasis nusodinimas Superlydiniai Silicidų lydiniai Aliuminidų lydiniai (2) Tauriuoju metalu modifikuoti aliuminidai (3) MCrAlX (5) Modifikuotas cirkonio dioksidas (12) Platina Aukščiau nurodytų medžiagų mišiniai (4) Keramika ir mažai plėtrūs stiklai (14) Silicidai Platina Aukščiau nurodytų medžiagų mišiniai (4) Dielektriniai sluoksniai (15) Titano lydiniai (13) Boridai Nitridai Oksidai Silicidai Aliuminidai Aliuminidų lydiniai (2) Karbidai Anglis-anglis, keraminės ir metalinės matricos kompozitai Silicidai Karbidai Sunkialydžiai metalai Aukščiau nurodytų medžiagų mišiniai (4) Dielektriniai sluoksniai (15) Cementuotas volframo karbidas (16), Silicio karbidas Karbidai Volframas Aukščiau nurodytų medžiagų mišiniai (4) Dielektriniai sluoksniai(15) Molibdenas ir molibdeno lydiniai Berilis ir berilio lydiniai Jutiklių langelių medžiagos Dielektriniai sluoksniai (15) Boridai Dielektriniai sluoksniai (15) Dielektriniai sluoksniai (15) Sunkialydžiai metalai ir lydiniai (3) Aliuminidai Silicidai Oksidai Karbidai G.

Jonų implantavimas Aukštai temperatūrai atsparūs plienai Chromo, tantalo ar niobio priedai Titano lydiniai (13) Boridai Nitridai Berilis ir berilio lydiniai Boridai Cementuotas volframo karbidas (16) Karbidai Nitridai Pastabos lentelei „Dengimo technika“:

1.Terminas dengimo procesas apima įprastinį (pirmąjį) dengimą, taip pat dangos defektų šalinimą ir kartotinę apdailą.

2.Terminas aliuminido lydinio danga apima vienpakopį ar daugiapakopį dengimą, kurio metu elementas ar elementai yra nusodinami prieš aliuminido dangos sudarymą ar jo metu, netgi jei tie elementai nusodinami kito dengimo proceso metu. Tačiau šis terminas neapima vienpakopio modulinio cementavimo daugkartinio kartojimo procesų, kurių tikslas – gauti aliuminidų lydinius.

3.Terminas tauriuoju metalu modifikuotas aliuminidinis dengimas apima daugiapakopį dengimą, kuriame taurusis metalas ar taurieji metalai yra nusodinami kuriuo nors dengimo būdu prieš taikant aliuminidinį dengimą.

4.Mišiniai sudaryti iš įterptos (infiltruotos) medžiagos, įvairios sudėties kompozicijų, sąsėdų bei daugiasluoksnių nuosėdų ir yra gaunami atliekant vieną ar kelis lentelėje nurodytus dengimo procesus.

5.MCrAlX nurodo dangos lydinį, kuriame M reiškia kobaltą, geležį, nikelį ar jų kombinacijas, o X reiškia įvairius hafnio, itrio, silicio, tantalo kiekius arba daugiau kaip 0,01 procento kitų iš anksto numatytų priedų, kurių proporcijos ir kombinacijos gali būti įvairios, išskyrus: a. CoCrAlY dangas, kurios turi mažiau kaip 22 masės procentus chromo, mažiau kaip 7 masės procentus aliuminio ir mažiau kaip 2 masės procentus itrio; b. CoCrAlY dangas, kurios turi nuo 22 iki 24 masės procentų chromo, 10–12 masės procentų aliuminio ir 0,5–0,7 masės procento itrio; arba c. NiCrAlY dangas, kurios turi 21–23 masės procentus chromo, 10–12 masės procentų aliuminio ir 0,9–1,1 masės procento itrio.

6.Terminas aliuminio lydiniai apibūdina lydinius, kurių tempiamasis stipris, išmatuotas 293 K(200C) temperatūroje, yra 190 MPa ar daugiau.

7.Terminas atsparus korozijai plienas apibūdina plieną, tenkinantį AISI (Amerikos geležies ir plieno instituto) 300 serijos arba ekvivalentinio nacionalinio standarto reikalavimus.

8.Sunkialydžiams metalams priskiriami niobis, molibdenas, volframas, tantalas ir jų lydiniai.

9.Jutiklių langelių medžiagos yra tokios kaip: aliuminio oksidas, silicis, germanis, cinko sulfidas, cinko selenidas, galio arsenidas ir metalų halogenidai: kalio jodidas, kalio fluoridas, o jeigu jutiklių langelių skersmuo didesnis kaip 40 mm – talio bromidas ir talio chlorobromidas.

10.Kategorija 1020 nedraudžia tik aerodinaminių paviršių vienpakopio modulinio cementavimo technologijos.

11.Polimerams čia priskiriami poliamidas, poliesteris, polisulfidas, polikarbonatai ir poliuretanai.

12.Modifikuotas cirkonio oksidas – tai cirkonio oksidas su kitų metalų (pavyzdžiui, kalcio, magnio, itrio, hafnio, retųjų žemės oksidų ir kt.) oksidų priedais, stabilizuojančiais tam tikras kristalografines fazes bei fazių kompozicijas. Šiluminiam barjerui skirtos cirkonio oksido dangos, lydymo ar maišymo būdu modifikuotos kalcio ar magnio oksidais.

13.Titano lydiniai šiuo atveju yra kosminėje technikoje naudojami lydiniai, kurių 293 K (200C) temperatūroje išmatuotas didžiausias tempiamasis stipris yra 900 MPa ar didesnis.

14.Mažai plėtrūs stiklai yra stiklai, kurių šiluminio plėtimosi koeficientas, išmatuotas 293 K (200C) temperatūroje, yra 10-7K-1 ar mažesnis.

15.Dielektriniais sluoksniais laikomos dangos, sudarytos iš kelių sluoksnių izoliacinių medžiagų. Šių skirtingą lūžio rodiklį turinčių medžiagų interferencinės savybės yra panaudojamos įvairaus ilgio bangoms atspindėti, perduoti ar sugerti. Dielektriniai sluoksniai susideda iš daugiau kaip keturių dielektriko sluoksnių ar dielektriko-metalo kompozitų sluoksnių.

16.Cementuoti volframo karbidai neapima pjovimo ir formavimo įrankių, kurių sudėtis: volframo karbidas ir kobaltas, kobaltas-nikelis arba nikelis, titano karbidas ir kobaltas, kobaltas-nikelis arba nikelis, chromo karbidas ir nikelis-chromas ar chromo karbidas ir nikelis.

Techninės pastabos lentelei „Dengimo technika“:

Pirmajame lentelės stulpelyje išvardyti procesai apibūdinami taip: a. Cheminis nusodinimas iš garų fazės (CVD) yra viršutinio sluoksnio sudarymo ar paviršiaus pakeitimo (modifikavimo) dengimo procesas, kurio metu metalas, lydinys, kompozitas, dielektrikas ar keramika yra nusodinami ant įkaitinto padėklo. Dujiniai reagentai skyla ar jungiasi prie pat padėklo paviršiaus, ir ant jo nusėda norimas elementas, lydinys ar junginys. Šiam skilimui ar cheminei reakcijai reikiamą energiją duoda šiluma, rusenantysis plazmos išlydis ar švitinimas lazeriu.

Įsidėmėkite:

1.CVD apima tokius procesus: kryptingą dujų srauto nemodulinį nusodinimą, impulsinį CVD, valdomąjį susidarančių užuomazgų šiluminį (terminį) skilimą (CNTD), CVD procesus, kuriuos sukelia ar skatina plazma.

2.„Paketas“ reiškia į miltelių mišinį panardintąjį padėklą.

3.Dujiniai reagentai, naudojami ištisiniam (nepaketiniam) padengimui yra gaunami naudojant tas pačias pagrindines reakcijas ir parametrus, kaip ir paketinės cementacijos procese, išskyrus tai, kad dengiamas gaminys nesiliečia su miltelių mišiniu. b. Šiluminis (terminis) garinimas – fizikinis nusodinimas iš garų fazės (TE-PVD) – viršutinio sluoksnio susidarymo procesas, vykstantis vakuume, kuriame slėgis mažesnis kaip 0,1 Pa, o dengiančiajai medžiagai išgarinti naudojamas šiluminis energijos šaltinis. Šio proceso rezultatas yra išgarintos medžiagos kondensavimasis (arba nusodinimas) ant atitinkamai pozicionuotų padėklų.

Dujų įleidimas į vakuuminę kamerą, siekiant dangą sudarantį junginį susintetinti dengimo metu, yra įprasta proceso atmaina.

Jonų ar elektronų pluošto ar plazmos panaudojimas dangai nusodinti, suaktyvinti ar skatinti yra taip pat būdinga šios technikos atmaina. Monitorių panaudojimas, leidžiantis proceso metu matuoti optines dangų charakteristikas ir storį, taip pat gali būti būdingas šių procesų bruožas.

Savitieji TE-PVD procesai yra tokie:

1.Elektronpluoštis PVD dangą sudarančiai medžiagai įkaitinti ir išgarinti naudoja elektronų pluoštą;

2.Varžinio kaitinimo PVD procese naudojami elektrinio varžinio kaitinimo šaltiniai, įgalinantys kurti valdomus ir vienalyčius dengiančiosios medžiagos garų srautus;

3.Lazerinis garinimas – procesas, kurio metu dangą sudarančiai medžiagai įkaitinti naudojamas impulsinio arba nuolatinės veikos lazerio pluoštas.

4.Katodinio lankinio nusodinimo procese vartojamas eroduojamasis katodas iš dengiančiosios medžiagos ir lankinis iškroviklis, įtaisytas ant katodo paviršiaus trumpam momentiniam kontaktui su įžemintu paleidimo įtaisu (trigeriu). Valdomojo judesio lankinio išlydžio katodo erozija sukuria stipriai jonizuotą plazmą. Anodas gali būti arba kūgis, įtvirtintas prie išorinės katodo dalies per izoliatorių, arba pati kamera. Netiesiniam nusodinimui valdyti naudojamas padėklo priešįtampis.

Įsidėmėkite:

Šis apibrėžimas neapima atsitiktinio katodinio lankinio nusodinimo, kai padėklas neturi priešįtampio. c. Joninis nusodinimas yra speciali bendro TE-PVD proceso modifikacija, kurioje dengiančiajai medžiagai jonizuoti naudojamas plazmos ar jonų šaltinis, o neigiamasis priešįtampis padeda paimti iš plazmos nusodintus komponentus. Reaktingųjų medžiagų įvedimas, kietųjų medžiagų išgarinimas dengimo kameroje, monitorių naudojimas optiniams dangų parametrams ir storiui matuoti dengimo metu yra įprastos šio proceso modifikacijos. d. Paketinis cementavimas yra paviršiaus modifikavimo dangos ar viršutinio sluoksnio sudarymo procesas, kurio metu padėklas yra panardintas į miltelių mišinį, sudarytą iš:

1.Nusodinamo metalo miltelių (paprastai aliuminio, chromo, silicio ar jų mišinių);

2.Aktyvatoriaus (paprastai halogenido druskos); ir 3. Inertinių miltelių (dažniausiai aliuminio oksido).

Padėklas ir miltelių mišinys sudedami į kamerą, kuri kaitinama 1030 K (7570C) – 1375 K (11020C) temperatūroje tiek laiko, kiek reikia dangai susidaryti. e. Plazminis purškimas yra viršutinio sluoksnio sudarymo procesas, kuriame plazmą formuojantis ir valdantis prožektorius priima miltelių ar vielos pavidalo dengiančiąsias medžiagas, jas išlydo ir stumia prie padėklo, ant kurio formuojama gerai surišta danga. Plazminiam purškimui gali būti naudojama žemo slėgio plazma arba didelio greičio plazma (tokiu atveju purškiama vandenyje).

Įsidėmėkite:

1.Mažas slėgis reiškia mažesnį kaip atmosferos slėgį.

2.Didelio greičio plazma reiškia, kad iš prožektoriaus tūtos išeinančių dujų greitis 293 K (200C) temperatūroje ir 0,1 MPa slėgyje yra didesnis kaip 750 m/s. f. Suspensinis dengimas yra paviršiaus pakeitimo arba viršutinio sluoksnio sudarymo procesas, kurio metu skystyje suspenduotas metalo ar keramikos miltelių ir organinio rišiklio mišinys patenka ant padėklo purškimo, panardinimo ar užtepimo būdu, gautas sluoksnis džiovinamas ore ar džiovinimo spintoje ir kaitinamas, kol susidaro norima danga. g. Dulkinamasis nusodinimas yra viršutinio sluoksnio sudarymo procesas, pagrįstas judesio kiekio perdavimo reiškiniu: teigiamųjų jonų judėjimą link taikinio (dengiamosios medžiagos) paviršiaus pagreitina elektrinis laukas. Smūgiuojančių jonų kinetinės energijos užtenka taikinio paviršiaus atomams išmušti ir nusodinti ant tinkamai įtvirtinto padėklo.

Įsidėmėkite:

1.Lentelėje pateikiami tik duomenys apie triodinį, magnetroninį ar reaktyvinį dulkinamąjį nusodinimą, kuris naudojamas dangos adhezijai padidinti ir nusėdimui pagreitinti ir apie radijo dažnių (RF) suintensyvintą dulkinamąjį nusodinimą, naudojamą nemetalinėms dengimo medžiagoms išgarinti.

2.Nusėdimui suaktyvinti gali būti panaudoti mažos energijos (mažesnės kaip 5 keV) jonų pluoštai. h. Jonų implantavimas yra paviršiaus pakeitimo procesas, kurio metu elementas, kurio lydinį reikia gauti, yra jonizuojamas, pagreitinamas potencialo gradientu ir įterpiamas į padėklo paviršių. Čia įeina ir procesai, kurių metu implantavimas derinamas su fizikiniu nusodinimu iš garų fazės elektronų pluošto metodu, ar dulkinamasis nusodinimas.

Papildomi paaiškinimai Suprantama, kad žemiau pateikta techninė informacija gali būti panaudota kartu su lentelės „Dengimo technika“duomenimis ir yra su jais susijusi:

1.Lentelėje išvardytų padėklų parengiamojo apdorojimo technologiniai parametrai, tokie kaip: a. Cikliniai dangų nuėmimo cheminiu būdu ir vonių valymo parametrai, tokie kaip:

1.Vonių valymo mišiniai: a. Senoms ar defektinėms dangoms, korozijos produktams ar pašalinėms nuosėdoms pašalinti; b. Nenaudotiems padėklams paruošti.

2.Laikymo vonioje trukmė.

3.Vonios temperatūra.

4.Plovimo ciklų skaičius ir seka. b. Makroskopiniai išorinio apžiūrėjimo kriterijai priimant nuvalytą detalę. c. Šiluminio apdorojimo ciklo parametrai, tokie kaip:

1.Atmosferos parametrai: a. Atmosferos sudėtis. b. Atmosferos slėgis.

2.Šiluminio apdorojimo temperatūra.

3.Šiluminio apdorojimo trukmė. d. Padėklo paviršiaus paruošimo parametrai, tokie kaip:

1.Smėliasraučio valymo parametrai, tokie kaip: a. Smėlio sudėtis; b. Smėlio dalelių matmenys ir forma; c. Dalelių greitis.

2.Valymo ciklų, atliekamų po smėliasraučio valymo, trukmė ir seka.

3.Baigiamojo paviršiaus apdirbimo parametrai. e. Laikinojo dengimo parametrai, tokie kaip:

1.Laikinosios dangos medžiaga;

2.Laikinosios dangos vieta.

2.Technologiniai kokybės laidavimo būdai lentelėje išvardytiems dengimo procesams ir proceso metu (in situ) įvertinti: a. Atmosferos parametrai:

1.Atmosferos sudėtis;

2.Atmosferos slėgis. b. Laikiniai parametrai. c. Temperatūros parametrai. d. Sluoksnio storio parametrai. e. Lūžio rodiklio parametrai.

3.Lentelėje išvardytų dengtų padėklų apdirbimo, atliekamo po dangos nusodinimo, technologiniai parametrai: a. Sukietintojo šratasraučio apdirbimo parametrai, tokie kaip:

1.Šratų sudėtis;

2.Šratų matmenys;

3.Šratų greitis. b. Dangų valymo po sukietintojo šratasraučio apdirbimo parametrai. c. Šiluminio apdorojimo ciklo parametrai:

1.Atmosferos parametrai, tokie kaip: a. Atmosferos sudėtis; b. Atmosferos slėgis.

2.Laikiniai temperatūros ciklai. d. Makroskopiniai išorinio apžiūrėjimo kriterijai, kuriais remiantis dengtieji padėklai po šiluminio apdorojimo priimami naudoti.

4.Technologiniai kokybės užtikrinimo parametrai lentelėje išvardytoms dangoms įvertinti, tokie kaip: a. Statistinio bandinių paėmimo kriterijai; b. Mikroskopiniai kriterijai:

1.Didinimui;

2.Dangos storio vienodumui;

3.Dangos vientisumui;

4.Dangos sudėčiai;

5.Dangos ir padėklo sukibimui;

6.Mikrostruktūros vienodumui. c. Optinių savybių įvertinimo kriterijai:

1.Atspindžio faktorius;

2.Praleidimo faktorius;

3.Sugerties faktorius;

4.Sklaidos faktorius.

5.Technologija ir parametrai, susiję su savitaisiais lentelėje nurodytais dengimo ir paviršiaus pakeitimo procesais, tokiais kaip: a. Cheminis nusodinimas iš garų fazės:

1.Dangos žaliavos sudėtis ir formulė;

2.Nešiklinių dujų sudėtis;

3.Padėklo temperatūra;

4.Laiko-temperatūros-slėgio ciklai;

5.Dujų kontrolė ir dozavimas; b. Šiluminis garinimas – fizikinis garų nusodinimas:

1.Luito ar dengiančiosios medžiagos žaliavos sudėtis;

2.Padėklo temperatūra;

3.Reaktingųjų dujų sudėtis;

4.Luito padavimo greitis ar medžiagos garinimo sparta;

5.Laiko-temperatūros-slėgio ciklai;

6.Srauto dozavimas.

7.Lazerio parametrai, tokie kaip: a. Bangos ilgis; b. Galios tankis; c. Impulso trukmė; d. Impulsų retis; e. Šaltinis; f. Padėklo orientacija. c. Paketinis cementavimas:

1.Paketo sudėtis ir receptūra;

2.Nešiklinių dujų sudėtis;

3.Laiko-temperatūros-slėgio ciklai. d. Plazminis dulkinimas (užpurškimas):

1.Miltelių sudėtis, paruošimas ir dalelių matmenų paskirstymas;

2.Paduodamų dujų sudėtis ir parametrai;

3.Padėklo temperatūra;

4.Lazerinio prožektoriaus galios parametrai;

5.Dulkinimo (purškimo) atstumas;

6.Dulkinimo (purškimo) kampas;

7.Dengimo aplinkos dujų sudėtis, slėgis ir tekėjimo greitis;

8.Prožektoriaus dozavimo valdymas. e. Dulkinamasis nusodinimas:

1.Taikinio sudėtis ir montavimas;

2.Geometrinis elementų ir taikinio pozicionavimas;

3.Reaktingųjų dujų sudėtis;

4.Elektrinis priešįtampis;

5.Laiko-temperatūros-slėgio ciklai;

6.Triodo galia;

7.Dozavimas. f. Jonų implantavimas:

1.Pluošto valdymas ir švitinimo dozavimas;

2.Jonų šaltinio konstrukcijos detalės;

3.Jonų pluošto valdymo technikos ir nusodinimo spartos parametrai;

4.Laiko-temperatūros-slėgio ciklai. g. Joninis nusodinimas:

1.Srauto valdymas ir dozavimas;

2.Jonų šaltinio konstrukcijos detalės;

3.Jonų pluošto valdymo technikos ir nusodinimo spartos parametrai;

4.Laiko-temperatūros-slėgio ciklai;

5.Dengiančiosios medžiagos padavimo greitis ir garinimo sparta;

6.Padėklo temperatūra;

7.Padėklo priešįtampis.

KPN kodas ESKP kodas Pavadinimas 1030. Elektronika 3A 1031. Įranga, mazgai ir komponentai Pastabos:

1.Įrangai, įtaisams ir elementams, aprašytiems 1031, išskyrus tuos, kurie aprašyti nuo 1031.1. a.3 iki 10 ar 1031.1. a.12, kurie specialiai suprojektuoti kitai įrangai ar kurie turi tas pačias funkcines charakteristikas kaip ir kita įranga, draudimo statusas nustatomas pagal kitos įrangos draudimo statusą.

2.Integrinių grandynų, aprašytų punktuose nuo 1031.1. a.3 iki 9 ar 1031.1. a.12, kurie pastoviai suprogramuoti ar suprojektuoti savitoms funkcijoms kitoje įrangoje atlikti, draudimo statusas nustatomas pagal kitos įrangos draudimo statusą.

Ypatingos pastabos:

Kai gamintojas ar vartotojas negali nustatyti draudimo statuso kitai įrangai, integrinių grandynų draudimo statusas yra nustatytas punktuose nuo 1031.1. a.3 iki 9 ar 1031.1. a.12.

Jei integrinis grandynas yra silicio pagrindu integrinis mikrokompiuterių grandynas ar integrinis mikrovaldiklių grandynas, aprašytas 1031.1. a.3, turintis 8 ar mažesnio bitų kiekio operando (duomenų) žodžio ilgį, integrinio grandyno draudimo statusas yra nustatytas 1031.1. a.3. ex 8542 3A001 1. Elektroniniai įtaisai ir komponentai: a. Bendrosios paskirties integriniai grandynai, išvardyti žemiau:

Pastabos:

1.Draudimo išbaigtoms ar pusiau išbaigtoms puslaidininkinėms plokštelėms, kurių funkcijos buvo apibrėžtos, statusas yra įvertinamas parametrais, nurodytais 1031.1. a.

2.Integriniams grandynams priskiriami:

Vientisi (monolitiniai) integriniai grandynai;

Hibridiniai integriniai grandynai;

Daugialusčiai integriniai grandynai;

Sluoksniniai integriniai grandynai, įskaitant silicio ant safyro integrinius grandynus;

Optiniai integriniai grandynai.

8542.12 ex 8542.19 ex 8542.30 1. a. 1. Integriniai grandynai, suprojektuoti ar normuoti kaip patvarūs radiacijai ir atlaikantys vieną iš šių verčių: a. Pilnutinę spinduliuotės dozę, lygią 5´105 Rads (Si) ar didesnę; arba b. Sutrikimo dozės galią, lygią 5´108 Rads (Si)/s ar didesnę.

8542.12 ex 8542.19 ex 8542.30 2. Integriniai grandynai, aprašyti nuo 1031.1. a.3 iki 10 ar 1031.1. a.12, t. y.: a. Normuoti veikti aplinkos temperatūroje, didesnėje kaip 398 K (+1250C); b. Normuoti veikti aplinkos temperatūroje, mažesnėje kaip 218 K (-550 C); ar c. Normuoti veikti visoje aplinkos temperatūros srityje nuo 218 K (-550 C) iki 398 K (+1250C);

Pastaba:

1031.1. a.2 netaikomas integriniams grandynams, naudojamiems civiliniuose automobiliuose ar traukiniuose.

8542.12 3. Integriniai mikroprocesorių grandynai, integriniai mikrokompiuterių grandynai ir integriniai mikrovaldiklių grandynai, turintys bet kurią iš šių charakteristikų:

Pastaba:

1031.1. a.3 priskiriami skaitmeniniai signalų procesoriai, skaitmeninių matricų procesoriai ir skaitmeniniai koprocesoriai. a. Aritmetinį- loginį įtaisą su kreipties skiltiškumu, lygiu 32 bitams ar didesniu ir sudėtine teorine operacijų vykdymo sparta (CTP), lygia 80 milijonų operacijų per sekundę (Mtops) ar didesne; b. Pagaminti iš sudėtinių puslaidininkių, veikiančių esant didesniam kaip 40 MHz taktų dažniui; arba c. Turintys daugiau kaip vieną duomenų ar komandų magistralę arba nuosekliojo ryšio prievadą (portą) išoriniam prijungimui prie lygiagrečiojo procesoriaus, kurio perdavimo sparta viršija 2,5 Mbaitų/s;

8542.12 4. Elektra trinamos programuojamosios pastoviosios atmintinės (EEPROMs), statinės laisvosios kreipties atmintinės (SRAMs) ir integriniai atminties grandynai, pagaminti iš sudėtinių puslaidininkių, išvardyti žemiau: a. EEPROMs su atminties talpa:

1.Viršijančia 16 Mbit paketinės atminties tipui; ar 2. Viršijančia vieną iš dviejų ribų visiems kitiems EEPROM tipams: a. 4 Mbit paketui; arba b. 1 Mbit paketui, ir turinčios didžiausią kreipties trukmę, mažesnę kaip 80 ns; b. SRAMs su atminties talpa:

1.Viršijančia 4 Mbit paketui; ar 2. Viršijančia 1 Mbit paketui, ir turinčios didžiausią kreipties trukmę, mažesnę kaip 20 ns. c. Integriniai atminties grandynai, pagaminti iš sudėtinių puslaidininkių.

8542.12 ex 8542.19 ex 8542.30 5. Integriniai skaitmeninių analogo ir analoginių skaitmenų keitiklių grandynai, išvardyti žemiau: : a. Skaitmeniniai analogo keitikliai, apibūdinami kuria nors iš šių charakteristikų 1. Aštuonių bitų ar didesne, bet mažesne kaip 12 bitų skiriamąja geba, ir pilnutine keitimo trukme, esant didžiausiai skiriamajai gebai, mažesnei kaip 10 ns.

2.Dvylikos bitų skiriamąja geba ir pilnutine keitimo trukme, esant didžiausiai skiriamajai gebai, mažesnei kaip 200 ns; ar 3. Didesne kaip 12 bitų skiriamąja geba ir pilnutine keitimo trukme, esant didžiausiai skiriamajai gebai, mažesnei kaip 2 µs. b. Analoginių skaitmenų keitiklių su 12 bitų ar didesne skiriamąja geba ir laisvosios parengties trukme, mažesne kaip 10 ns;

8542.12 ex 8542.30 6. Elektrooptiniai ir optiniai integriniai signalų apdorojimo grandynai, turintys visus šiuos elementus: a. Vieną ar daugiau vidinių lazerinių diodų; b. Vieną ar daugiau vidinių šviesai jautrių elementų; ir c. Optinius bangolaidžius.

8542.12 7. Vartotojo programuojamos loginės matricos, sudarytos iš lauko tranzistorių ir turinčios vieną iš dviejų: a. Ekvivalentinį naudojamų loginių elementų skaičių, didesnį kaip 30000 (2 įėjimų loginiai elementai); ar b. Tipinę pagrindinę loginio elemento vėlinimo trukmę, mažesnę kaip 0,4 ns.

8542.12 8. Vartotojo programuojamos loginės matricos, apibūdinamos viena iš šių charakteristikų: a. Ekvivalentiniu naudojamų loginių elementų skaičiumi, didesniu kaip 30000 (2 įėjimų loginiai elementai); ar b. Taktų dažniu, viršijančiu 133 MHz.

8542.12 9. Neuroninio tipo integriniai grandynai;

8542.12 ex8542.19 ex 8542.30 10. Užsakomieji integriniai grandynai, kurių viena iš funkcijų yra nežinoma, ar draudimo statusas įrangai, kurioje integriniai grandynai būtų naudojami, gamintojui nėra žinomas, turintys bet kurią iš šių charakteristikų: a. Daugiau kaip 144 gnybtus; b. Tipinę pagrindinę loginio elemento vėlinimo trukmę, mažesnę kaip 0,4 ns; ar c. Veikimo dažnį, viršijantį 3 GHz.

8542.12 11. Skaitmeniniai integriniai grandynai, kitokie nei aprašytieji punktuose nuo 1031.1. a.3 iki 10 ar 1031.1. a.12 punkte, kurių pagrindą sudaro sudėtiniai puslaidininkiai ir kurie apibūdinami viena iš šių charakteristikų: a. Ekvivalentiniu loginių elementų skaičiumi, didesniu kaip 300 (2 įėjimų loginiai elementai); ar b. Taktų dažniu, viršijančiu 1,2 GHz.

12.Sparčiojo Furjė keitimo (FFT) procesoriai, apibūdinami šiomis charakteristikomis: a. Vardine komandos vykdymo trukme 1024 taškų kompleksinio FFT atveju, mažesne kaip 1 ms; b. Vardine komandos vykdymo trukme N – taškų kompleksinio sparčiojo Furjė keitimo atveju, kitokiu negu besiskiriančio nuo 1024 taškų keitimas, mažesne kaip Nlog2 N/10240 ms, kur N yra taškų skaičius; ar c. Drugelio tipo našumu, didesniu kaip 5,12 MHz. ex 8540.60 ex 8540.91 ex 8541 b. Mikrobangų ar milimetrinių bangų įtaisai:

1.Elektroniniai vamzdžiai ir katodai, išvardyti žemiau: (apie dažniui jautrius magnetroninius vamzdžius žr. amunicijos sąrašo 2011).

Pastaba:

1031.1. b.1 nedraudžia vamzdžių, suprojektuotų ar skirtų veikti pagal Civilinių ryšių dažnių juostos standartą dažniuose neviršijančiuose 31 GHz. ex 8540.60 1. b. 1. a. Impulsinės arba nuolatinio generavimo bėgančiosios bangos lempos, kurių charakteristikos yra tokios:

1.Veikimo dažniai didesni kaip 31 GHz;

2.Turintys katodo kaitinimo elementą, kurio įšilimo trukmė vardinei radijo dažnių galiai pasiekti yra mažesnė kaip 3 sekundės;

3.Susietųjų rezonatorių bėgančiosios bangos lempos arba jų atmainos, kurių akimirkinis dažnių juostos plotis didesnis kaip 7% ar smailinė galia viršija 2,5 kW.

4.Spiralinės bėgančiosios bangos lempos arba jų atmainos, turinčios bet kurią iš šių charakteristikų: a. Akimirkinį dažnių juostos plotį, didesnį kaip viena oktava ir vidutinės galios (išreikštos kW) ir dažnio (išreikšto GHz) sandaugą, didesnę kaip 0,5; b. Akimirkinį dažnių juostos plotį, lygų arba mažesnį už vieną oktavą, ir vidutinės galios (išreikštos kW) ir dažnio (išreikšto GHz) sandaugą, didesnę kaip 1; ar c. Tinkamos naudoti kosmose. ex 8540.81 b. Magnetroninės (M tipo) stiprintuvinės lempos, kurių stiprinimo koeficientas didesnis kaip 17 dB; ex 8540.99 c. Impregnuotieji elektroninių vamzdžių katodai, turintys vieną iš dviejų parametrų:

1.Įkaitimo trukmę vardinei emisijai pasiekti, mažesnę kaip 3 sekundės; ar 2. Nuolatinės emisijos srovės tankį norminėmis veikimo sąlygomis, viršijantį 5 A/cm2.

8542.12 ex 8542.19 ex 8542.90 2. Mikrobanginiai integriniai grandynai ar moduliai, turintys vientisus (monolitinius) integrinius grandynus, veikiantys dažniuose, viršijančiuose 3 GHz. :

Pastaba:

1031.1. b.2 nedraudžia grandynų ar modulių, skirtų įrangai, suprojektuotai ar numatytai veikti pagal Civilinių ryšių dažnių juostos standartą dažniuose, neviršijančiuose 31 GHz. ex 8541.21 3. Mikrobanginiai tranzistoriai, galintys veikti didesniuose kaip 31 GHz dažniuose. ex 8542.19 ex 8542.30 ex 8542.90 4. Mikrobanginiai kietojo kūno stiprintuvai, kurių parametrai yra tokie: a. Veikiantys dažniuose, viršijančiuose 10,5 GHz, ir turintys akimirkinį dažnių juostos plotį, didesnį kaip pusė oktavos; b. Veikiantys dažniuose, viršijančiuose 31 GHz. ex 8529.90 ex 8543.89 5. Elektroninio arba magnetinio derinimo juostiniai arba užtvariniai filtrai, turintys daugiau kaip 5 derinamuosius rezonatorius, įgalinančius dažnių juostą (fmax/fmin) perderinti 1,5: 1 santykiu per mažiau nei 10 ms su vienu iš dviejų parametrų: a. Praleidimo dažnių juostos pločiu, didesniu kaip 0,5% centrinio dažnio; ar b. Užtvarinių dažnių juostos pločiu, mažesniu kaip 0,5% centrinio dažnio. ex 8529.90 ex 8542.90 6. Mikrobanginiai mazgai, galintys veikti dažniuose, viršijančiuose 31 GHz. ex 7419.99 7508.10 7. Maišikliai ir keitikliai, suprojektuoti 1031.2. c,1031.2. e arba 1031.2. f punktuose aprašytos įrangos dažnių diapazonams išplėsti virš juose nustatytų ribinių verčių. c. Akustinių bangų įtaisai ir specialiai jiems suprojektuoti komponentai, kurių charakteristikos yra tokios:

8541.60 1. Paviršinių akustinių bangų ir priepaviršinių tūrinių akustinių bangų įtaisai (t. y. signalų apdorojimo įtaisai, naudojantys tampriųjų bangų sklidimą medžiagose), turintys bet kurį iš šių parametrų: a. Nešlio dažnį, viršijantį 2,5 GHz; b. Nešlio dažnį, lygų ar mažesnį kaip 2,5 GHz, ir:

1.Šalinio dažnių lapelio malšinimo koeficientą, viršijantį 55 dB;

2.Didžiausiosios vėlinimo trukmės ir juostos pločio sandaugą (laikas, µs, ir juostos plotis, MHz), didesnę kaip 100; ar 3. Dispersinio vėlinimo trukmę, didesnę kaip 10 µs; ar c. Nešlio dažnį, viršijantį 1 GHz, ir juostos plotį, lygų ar didesnį už 250 MHz.

2.Tūrinių akustinių bangų įtaisai (t. y. signalų apdorojimo įtaisai, naudojantys tampriąsias bangas), tiesiogiai apdorojantys didesnio kaip 1 GHz dažnio signalus.

3.Akustiniai-optiniai signalų apdorojimo įtaisai, naudojantys akustinių (tūrinių ar paviršinių bangų) ir šviesos bangų sąveiką, kuriais tiesiogiai galima apdoroti signalus ar vaizdus, įskaitant spektrinę analizę, koreliaciją ar konvoliuciją. ex 8541.21 8542.12 ex 8542.90 d. Elektroniniai įtaisai ar grandynai, pagaminti iš superlaidžiųjų medžiagų ir specialiai suprojektuoti veikti temperatūroje, žemesnėje už (nors vieno superlaidininko komponento) krizinę temperatūrą, turintys nors vieną iš šių charakteristikų:

1.Elektromagnetinį stiprinimą: a. Dažniuose, lygiuose ar mažesniuose už 31 GHz, su triukšmų lygiu, mažesniu kaip 0,5 dB; ar b. Dažniuose, viršijančiuose 31 GHz.

2.Skaitmeninių grandynų srovės perjungiklius, naudojančius superlaidininkinius loginius elementus, kurių vėlinimo trukmės (sekundėmis) ir sklaidos galios (vatais) sandauga mažesnė kaip 10-14J; ar 3. Dažnių atranka visuose dažniuose, naudojant rezonansinius kontūrus, kurių kokybė (Q) viršija 10000. e. Didelės energijos įtaisai, kurių charakteristikos yra tokios:

1.Baterijos, kurių parametrai yra šie:

Pastaba:

1031.1. e.1 nedraudžia baterijų, kurių tūris lygus ar mažesnis už 27 cm3 (t. y. standartinių C elementų ar R14 baterijų). ex 8506.80 a. Pirminiai elementai ir baterijos, turinčios energijos tankį, viršijantį 480 Wh/kg, ir normuoti veikti temperatūroje nuo 243 K (-300C) iki 343 K (700C); ex 8507.30 ex 8507.80 b. Įkraunamieji elementai ir baterijos, turinčios energijos tankį, viršijantį 150 Wh/kg po 75 įkrovimo ir iškrovimo ciklų, kai iškrovimo srovė lygi C/5 valandų (C- vardinė talpa ampervalandėmis) ir kai veikimo temperatūra – nuo 253 K (-200C) iki 333 K (600C);

Techninė pastaba:

Energijos tankis gaunamas dauginant vidutinę galią vatais (vidutinės įtampos, voltais, ir vidutinės srovės, amperais, sandauga) iš išsikrovimo trukmės, valandomis, kol pasiekiama 75% atvirosios grandinės įtampa, ir dalijant iš visos elemento (ar baterijos) masės, kilogramais.

8541.40.91 c. Kosmosui skirtos ir radiacijai atsparios iš fotoelementų sudarytos plokštės, kurių savitoji galia viršija 160 W/m2 veikimo temperatūroje, lygioje 301 K (280C), šviečiant volframiniam 2800 K (25270C) temperatūros šaltiniui, sudarančiam 1 kW/m2 energinę apšvietą. ex 8532.24 ex 8532.29 2. Didelės energijos kaupikliai, kurie išvardyti žemiau: a. Kaupikliai, kurių kartojimosi dažnis mažesnis kaip 10 Hz (vienkartiniai kaupikliai), turintys visus šiuos parametrus:

1.Vardinę įtampą, lygią arba didesnę kaip 5 kV;

2.Energijos tankį, lygų ar didesnį kaip 250 J/kg; ir 3. Pilnutinę energiją, lygią ar didesnę kaip 25 kJ. b. Kaupikliai, kurių kartojimosi dažnis lygus ar didesnis kaip 10 Hz (daugkartiniai kaupikliai), turintys visus žemiau išvardytus parametrus:

1.Vardinę įtampą, lygią arba didesnę kaip 5 kV;

2.Energijos tankį, lygų ar didesnį kaip 50 J/kg;

3.Pilnutinę energiją, lygią ar didesnę kaip 100 J; ir 4. Įkrovimo ir iškrovimo ciklų skaičių, lygų ar didesnį kaip 10000;

8505.90.10 3. Superlaidieji elektromagnetai ar solenoidai, specialiai suprojektuoti visiškam jų įkrovimui ar iškrovimui per trumpesnį nei 1 sekundė laiko tarpą, turintys visus šiuos parametrus:

Pastaba:

1031.1. e.3 nedraudžia superlaidžiųjų elektromagnetų ar solenoidų, specialiai suprojektuotų magnetinio rezonanso tomografijai (MRI), naudojamai medicinos įrangoje. a. Iškrovimo metu tiekiamą energiją, viršijančią 10 kJ per pirmąją sekundę; b. Vidinį srovės apvijos skersmenį, didesnį kaip 250 mm; ir c. Vardinę magnetinę indukciją, didesnę kaip 8 T, ar antsrovio tankį apvijoje, didesnį kaip 300 A/mm2; ex 8543.89 4. Elektromagnetinės energijos kaupimo grandinės arba sistemos, turinčios komponentų, pagamintų iš superlaidžiųjų medžiagų, specialiai suprojektuoti veikti temperatūrose, mažesnėse už krizinę temperatūrą, mažiausiai vieno iš superlaidžiųjų sandų ir visus žemiau išvardytus parametrus: a. Rezonansinį veikimo dažnį, viršijantį 1 MHz; b. Sukauptosios energijos tankį, lygų ar didesnį kaip 1 MJ/m3; ir c. Iškrovimo trukmę, mažesnę kaip 1 ms; ex 9022.19 ex 9022.30 5. Impulsinės iškrovos rentgeno spinduliuotės sistemos ir joms skirti vamzdžiai, turintys visus šiuos parametrus: a. Smailinę galią, viršijančią 500 MW; b. Išėjimo įtampą, viršijančią 500 kV; ir c. Impulso trukmę, mažesnę kaip 0,2 ms. ex 9031.80 1. f. Rotorinių įvesties velenų absoliučiosios padėties keitikliai, turintys vieną iš šių parametrų:

1.Skiriamąją gebą, geresnę nei 1 dalis iš 265000 (18 bitų skiriamoji geba) per visą skalę; ar 2. Tikslumą, geresnį kaip ±2,5 kampo sekundės.

3A002 2. Bendrosios paskirties elektroninė įranga: ex 8520.32 ex 8520.39 a. Įrašymo įranga ir specialios matuojamosios magnetinės juostos, kurių charakteristikos yra tokios:

1.Analoginiai magnetofonai, įskaitant tuos, kuriais galima įrašyti skaitmeninį signalą (t. y. naudoti skaitmeninį didelio tankio įrašymo modulį (HDDR)), ir turintys bet kurią iš šių charakteristikų: a. Juostos plotį, viršijantį 4 MHz vienam elektroniniam kanalui ar takeliui; b. Juostos plotį, viršijantį 2 MHz vienam elektroniniam ka-nalui ar takeliui, ir turintiems daugiau kaip 42 takelius; ar c. Pagrindinę laikinio poslinkio paklaidą, išmatuotą taikant IRIG ar EIA dokumentuose numatytas metodikas, mažesnę nei ±0,1ms; ex 8521.10 2. Skaitmeniniai vaizdo magnetofonai, turintys didžiausią skaitmeninio interfeiso perdavimo spartą, viršijančią 180 Mbit/s, išskyrus tuos, kurie yra specialiai sukonstruoti televizijos įrašams daryti, naudojant signalų formatą, kurį standartizavo arba rekomendavo CCIR ar IEC viešojoje (civilinėje) televizijoje; ex 8471.90 3. Skaitmeniniai duomenų įrašymo magnetofonai, naudojantys sraigtinio skleidimo ar fiksuotųjų galvučių įrašymo būdus, ir turintys vieną iš tokių charakteristikų: a. Didžiausią skaitmeninio interfeiso perdavimo spartą, viršijančią 175 Mbit/s; ar b. Tinkami naudoti kosmose.

Pastaba:

1031.2. a.3 nedraudžia skaitmeniniams duomenims įrašyti skirtų analoginių magnetofonų su didelio tankio įrašymo (HDDR) keitimo elektroniniais įtaisais. ex 8522.90 4. Įranga su didžiausia interfeiso perdavimo sparta, viršijančia 175 Mbit/s, suprojektuota skaitmeniniams vaizdo magnetofonams pakeisti skaitmeniniais duomenų įrašytuvais (įrašymo įtaisais);

5.Skaitmeniniai signalų gaubtinės koderiai ir pereinamųjų vyksmų (procesų) įrašytuvai, kurių parametrai tokie: a. Skaitmeninio kodavimo sparta lygi arba didesnė kaip 200 imčių per sekundę ir skiriamoji geba lygi ar didesnė kaip 10 bitų; ir b. Tolydžiojo praleidimo geba lygi ar didesnė kaip 2 Gbit/s;

Techninė pastaba:

Lygiagrečiųjų magistralių architektūros prietaisų tolydžiojo praleidimo geba yra lygi didžiausios žodžių spartos ir bitų skaičiaus žodyje sandaugai.

Praleidimo geba – greičiausioji duomenų perdavimo sparta, kuria informacija patenka į atminties įrenginį be nuostolių, išsaugoma imties sparta ir skaitmeninis analogo keitimas.

8543.20 b. Dažnio sintezatorių mazgai, turintys dažnių perjungimo trukmę, mažesnę kaip 1 ms tarp vieno ir kito atrinktojo dažnio; ex 9030.39 c. Signalų analizatoriai, kurių parametrai tokie:

1.Galintys analizuoti dažnius, viršijančius 31 GHz;

2.Dinaminiai signalų analizatoriai su realiojo laiko juostos pločiu, viršijančiu 25,6 kHz, išskyrus pastoviojo juostos pločio filtrus (žinomus kaip oktavos ar oktavos dalies filtrus).

8543.20 d. Dažnio sintezavimo signalų generatoriai, kuriantys išėjimo dažnius, kurių tikslumą, trumpalaikį bei ilgalaikį pastovumą (stabilumą) valdo ar tvarko vidinis pagrindinis dažnis, turintis bet kurį iš šių parametrų:

1.Didžiausią sintezuojamąjį dažnį, didesnį kaip 31GHz;

2.Dažnio perjungimo trukmę nuo vieno prie kito atrinktojo dažnio, mažesnę kaip 1 ms; ar 3. Vienpusės šalinės juostos (SSB) fazinį triukšmą, geresnį nei (126 + 20 log10F – 20 log10f), dBc/Hz; čia F-nuokrypis nuo veikimo dažnio [Hz] ir f – veikimo dažnis [MHz]:

Pastaba:

1031.2. c nedraudžia įrangos, kurios išėjimo dažnis kuriamas imant dviejų ar daugiau kvarco kristalų generuojamų dažnių sumą arba skirtumą, arba sumą arba skirtumą sudauginant. ex 9030.39 e. Tinklo analizatoriai, kurių didžiausias veikimo dažnis viršija 31 GHz.

Pastaba:

1031.2. e nedraudžia švytuojančiojo dažnio tinklo analizatorių, kurių didžiausias veikimo dažnis ne didesnis kaip 40 GHz ir kuriuose nėra nuotolinio valdymo sąsajos įtaisų (sietuvų). ex 9030.89 f. Mikrobanginiai matavimo imtuvai, kurių charakteristikos yra šios:

1.Didžiausias veikimo dažnis, viršijantis 31GHz; ir 2. Gebantys vienu metu matuoti amplitudę ir fazę. ex 9106.90 g. Atominiai dažnio etalonai, turintys bet kurią iš šių charakteristikų:

1.Ilgalaikį pastovumą (senėjimą) mažesnį (geresnį) nei 1´10-11/mėnesiui; ar 2. Tinkami naudoti kosmose.

Pastaba:

1031.2. g.1 nedraudžia nepritaikytų naudoti kosmose rubidžio etalonų. ex 8543.89 h. Integrinių grandynų emuliatoriai draudžiami pagal 1031.1. a.3 ar 1031.1. a.9.

Pastaba:

1031.2. h nedraudžia emuliatorių, suprojektuotų šeimai, kuriai priklauso nors vienas įtaisas, nedraudžiamas pagal 1031.1. a.3 ar 1031.1. a.9.

3B 1032. Bandymo, tikrinimo ir gamybos įranga Įranga puslaidininkiniams įtaisams ar medžiagoms gaminti ar bandyti ir specialiai jai suprojektuoti komponentai ir priedai, kurių charakteristikos yra tokios:

3B001 1. Programinio valdymo įranga epitaksiniam auginimui, t. y.: ex 8419.89 ex 8419.90 a. Galinti gaminti vienodo storio sluoksnius su nuokrypiu, mažesniu nei ±2,5% 75 mm ar didesniame ilgyje; ex 8419.89 ex 8419.90 b. Metaloorganinio padengimo cheminiu garinimu (MOCVD) reaktoriai, specialiai sukonstruoti sudėtinių puslaidininkių kristalams auginti, naudojant cheminę reakciją tarp medžiagų, draudžiamų pagal 1033.3 ar 1033.4; ex 8419.89 ex 8419.90 c. Epitaksinio auginimo iš molekulių pluošto įranga, naudojanti dujų šaltinius. ex 8543.89 ex 8543.90 3B002 2. Programinio valdymo įranga, suprojektuota jonų implantacijai, turinti bet kurią iš šių charakteristikų: a. Greitinimo įtampą, viršijančią 200 keV; b. Specialiai sukonstruotą ir optimizuotą veikti, kai greitinimo įtampa mažesnė kaip 10 keV; c. Sugebanti tiesiogiai įrašyti; arba d. Sugebanti didelės energijos deguonį implantuoti į pakaitintą puslaidininkinės medžiagos padėklą.

3B003 3. Programinio valdymo sausojo ėsdinimo anizatropine plazma įranga, kurios parametrai tokie: ex 8466.91 ex 8466.93 a. Plokštelių transportavimas perkėlimo tarp kasečių ir jų perkrovimo būdu, turintis vieną iš šių charakteristikų:

1.Magnetinį išlaikymą; ar 2. Elektronų ciklotroninį rezonansą (ECR). ex 8466.91 ex 8466.93 b. Specialiai suprojektuoti įrangai, draudžiamai pagal 1032.5 ir turinčiai vieną iš dviejų charakteristikų:

1 Magnetinį išlaikymą; ar 2. Elektronų ciklotroninį rezonansą (ECR);

3B004 4. Programinio valdymo plazma aktyvinamo CVD cheminio nusodinimo iš garų fazės įranga: ex 8419.89 ex 8419.90 a. Naudojanti plokštelių transportavimą perkėlimo tarp kasečių ir jų perkrovimo būdu, turintį vieną iš šių charakteristikų:

1.Magnetinį išlaikymą; ar 2. Elektronų ciklotroninį rezonansą (ECR). ex 8419.89 ex 8419.90 b. Specialiai suprojektuota įranga, draudžiama pagal 1032.5 ir turinti vieną iš šių charakteristikų:

1.Magnetinį išlaikymą.; ar 2. Elektronų ciklotroninį rezonansą (ECR). ex 9031.80 ex 9031.90 3B005 5. Programinio valdymo automatiškai pakraunamos daugiakamerės plokštelių perkėlimo sistemos, turinčios interfeisus plokštelėms įdėti ir išimti, prie kurių gali būti prijungti daugiau kaip du puslaidininkių apdirbimo įrenginiai, sujungti į vieną sistemą vakuumo aplinkoje, kad galima būtų atlikti įvairų plokštelių apdorojimą serijomis.

Pastaba:

10.32.5 nedraudžia automatinių robotizuotų plokštelių perkėlimo sistemų, nenumatytų veikti vakuumo aplinkoje.

3B006 6. Programinio valdymo litografijos įranga: ex 8428.90 ex 8431.39 a. Žingsninė tapdinimo ir eksponavimo įranga, skirta plokštelėms apdoroti fotooptiniais ar rentgeno spinduliuotės metodais, apibūdinamais viena iš dviejų charakteristikų:

1.Šviesos šaltinio bangos ilgiu, mažesniu kaip 400 nm; ar 2. Gebančiais sukurti paveikslus, kurių mažiausias išskiriamo topologinio elemento matmuo lygus arba mažesnis už 0,7 mm, kai skaičiuojama pagal formulę: ; čia: faktorius K=0,7;

MRF = mažiausias išskiriamo topologinio elemento matmuo. b. Įranga, specialiai suprojektuota kaukėms gaminti ar puslaidinin-kiniams įtaisams apdoroti naudojant kreipiamąjį sufokusuotą elektronų pluoštą, jonų pluoštą ar lazerio pluoštą, apibūdinama bet kuriuo iš šių parametrų:

1.Dėmės matmenimis, mažesniais kaip 0,2 mm;

2.Geba sukurti paveikslus, kurių topologinių elementų matmenys mažesni kaip 1 mm; ar 3. Bendrasis tikslumas geresnis kaip ±0,20 mm (3 sigma). ex 9010.50 ex 9010.90 3B007 7. Kaukės ar tarpiniai fotošablonai, išvardyti žemiau: a. Integriniams grandynams, draudžiamiems pagal 1031.1, gaminti; b. Daugiasluoksnės kaukės su fazės poslinkio sluoksniu.

3B008 8. Programinio valdymo bandymo įranga, specialiai sukonstruota puslaidininkiniams įtaisams ir plikiesiems lustams tikrinti, t. y.: ex 9010.50 ex 9030.83 ex 9030.90 a. Tranzistorinių įtaisų S – parametrams matuoti dažniuose, didesniuose kaip 31 GHz. ex 9010.50 ex 9030.83 ex 9030.90 b. Integriniams grandynams, gebantiems atlikti funkcijų (teisingumo lentelių) tikrinimą, bandyti, kai paveikslo formavimo sparta ne mažesnė kaip 40 MHz.

Pastabos:

1032.8. b nedraudžia bandymų įrangos, specialiai suprojektuotos bandyti:

1.Mazgus ar mazgų klases, skirtas buitiniams ar pramogų taikymams;

2.Nedraudžiamiems elektroniniams komponentams, mazgams ar integriniams grandynams. ex 9010.50 ex 9030.83 ex 9030.90 c. Mikrobanginiams integriniams grandynams dažniuose, didesniuose kaip 3 GHz, bandyti.

Pastaba:

1032.8. c nedraudžia bandymų įrangos, specialiai suprojektuotos mikrobanginiams integriniams grandynams, skirtiems įrangai projektuoti ar numatytiems veikti pagal Civilinių ryšių dažnių juostos standartą dažniuose, neviršijančiuose 31 GHz, tikrinti. ex 9012.10 ex 9012.90 d. Elektronpluoštės sistemos, suprojektuotos veikti, esant 3 keV ar mažesnei energijai, ar lazerio pluošto sistemos, skirtos bekontakčiam veikiančių puslaidininkinių įtaisų patikrinimui, pasižyminčios abiem žemiau išvardytomis charakteristikomis:

1.Stroboskopine geba su pluošto gesinimu arba detektoriniu strobavimu; ir 2. Turinčioms elektroninį spektometrą įtampai matuoti, kurio skyra ne mažesnė kaip 0,5 V.

Pastaba:

1032.8. d nedraudžia elektroninių rastrinių mikroskopų, išskyrus tuos, kurie specialiai suprojektuoti ir pritaikyti nesąlytiniam veikiančių puslaidininkinių įtaisų tikrinimui.

3C 1033. Medžiagos 3818.00 ex 8541.50 3C001 1. Įvairialytės epitaksinės medžiagos, susidedančios iš padėklo, padengto daugiasluoksne epitaksinio auginimo danga, iš: a. Silicio; b. Germanio, ar c. Galio ar indžio (III/V) junginių.

Techninė pastaba:

III/V junginiai yra polikristaliniai ar dvisandžiai ar sudėtiniai monokristaliniai produktai, kuriuose yra IIIA ir VA Mendelejevo periodinės klasifikavimo lentelės elementų (galio arsenidas, galio-aliuminio arsenidas, indžio fosfidas ir t. t.).

3701.30 ex 3701.99 ex 3707.90 3C002 2. Žemiau išvardytos rezistų medžiagos ir draudžiamais rezistais padengti šių parametrų padėklai: a. Pozityviniai rezistai, skirti puslaidininkinių įtaisų litografijai, specialiai pritaikyti naudoti esant bangų ilgiams, mažesniems kaip 370 nm; b. Visi rezistai, naudojami elektronpluoštėje arba jonpluoštėje litografijoje, kurių jautris lygus ar geresnis už 0,01 mC/mm2; c. Visi rezistai, naudojami rentgeno litografijoje, kurių jautris 2,5 mJ/mm2 ar didesnis; d. Visi rezistai, optimizuoti vaizdų sudarymo paviršiuose technologijai, įskaitant sililinius rezistus.

Techninė pastaba:

Sililinimo technika yra apibūdinama kaip procesas, apimantis rezisto paviršiaus oksidavimo procesus siekiant pagerinti drėgnąjį ir sausąjį ryškinimą. ex 2931.00 3C003 3. Organiniai-neorganiniai junginiai, tokie kaip: a. Organiniai metalo junginiai iš aliuminio, galio ar indžio, kurių grynumas (metalo bazė) geresnis kaip 99,999%; b. Organiniai arseno, organiniai stibio ir organiniai fosforo junginiai, kurių grynumas (neorganinio elemento bazė) geresnis kaip 99,999%.

Pastaba:

1033.3 draudžia tik junginius, kuriuose metalinis, iš dalies metalinis ar nemetalinis elementas yra tiesiogiai surištas su anglimi organinėje molekulės dalyje. ex 2850.00 3C004 4. Fosforo, arseno ar stibio hidridai, kurių net ištirpintų inertinėse dujose ar vandenilyje, grynumas geresnis kaip 99,999% net.

Pastaba:

1033.4 nedraudžia hidridų, turinčių 20% molių ar didesnį inertinių dujų ar vandenilio kiekį.

Žr.1D 3D 1034. Programinė įranga 3D001 1. Programinė įranga, specialiai sukurta pagal nuo 1031.1. b iki 1031.2. h arba 1032 draudžiamai įrangai tobulinti ar gaminti.

3D002 2. Programinė įranga, specialiai sukurta pagal 1032 draudžiamai programinio valdymo įrangai naudoti.

3D003 3. Puslaidininkinių įtaisų arba integrinių grandynų kompiuterinio pro-jektavimo programinė įranga, turinti bet kurią iš šių charakteristikų: a. Projektavimo taisykles ar grandinių tikrinimo taisykles; b. Fizinio grandinės topologinių elementų išdėstymo modeliavimą; ar c. Projektavimui skirtus litografinio apdorojimo programas.

Techninė pastaba:

Litografijos modeliavimo programa yra programinės įrangos paketas, naudojamas projektavimo fazėje, nustatant litografijos eilės tvarką, ėsdinimo ir padengimo pakopas, kaukių paveikslus paverčiant savitais topografiniais paveikslais laidininkuose, dielektrikuose ar puslaidininkinėse medžiagose.

Pastaba:

1034.3 nedraudžia programinės įrangos, specialiai sukurtos schemoms įvesti, loginiams elementams modeliuoti, jiems išdėstyti ir sujungimams formuoti, piešiniams patikrinti ar paveikslui generuoti.

Ypatinga pastaba:

Bibliotekos, projektavimo elementai ar su jais susiję duomenys, skirti puslaidininkiniams įtaisams ar integriniams grandynams projektuoti, yra laikomi technologija.

3E 1035. Technologija 3E001 1. Atsižvelgiant į bendrąjį technologijų sąrašą, technologija pagal 1031, 1032 ar 1033 draudžiamai įrangai arba medžiagoms tobulinti arba gaminti.

Pastaba:

1035.1 nedraudžia tobulinti ir gaminti: a. Mikrobanginių tranzistorių, veikiančių dažniuose, mažesniuose kaip 31 GHz; b. Integrinių grandynų, kuriuos draudžia nuo 1031.1. a.3 iki 12, turinčių abi iš šių charakteristikų:

1.Naudojančių 1mm ar didesnio sluoksnio storio technologiją, ir 2. Neturinčių daugiasluoksnių darinių.

Ypatinga pastaba:

Šis sąrašas nedraudžia išvežti daugiasluoksnę technologiją įtaisų, ku-riuose yra daugiausia du metaliniai ir du polikristalinio silicio sluoksniai.

3E002 2. Kitos technologijos, skirtos tobulinti ir gaminti: a. Vakuuminius mikroelektronikos įtaisus; b. Įvairialyčių darinių puslaidininkinius įtaisus, tokius kaip didelio elektronų judrumo tranzistorius (HEMT), įvairialyčius dvipolius tranzistorius (heterobipoliarinius tranzistorius) (HBT), kvantinių duobių ar supergardelinius įtaisus; c. Superlaidžiuosius elektroninius įtaisus; d. Elektroniniams komponentams gaminti skirtus deimantinių sluoksnių padėklus.

1040. Kompiuteriai 1 pastaba:

Ryšių arba vietinių tinklų kompiuteriai ir su jais susijusi techninė arba programinė įranga taip pat turi būti įvertinta pagal 1050 kategorijos (Ryšiai) technines charakteristikas.

Ypatingos pastabos:

1.Centrinio procesoriaus, pagrindinės atmintinės arba diskų valdiklių tiesioginių sujungimų magistralių arba kanalų valdymo įtaisai nelaikomi 1050 kategorijoje (Ryšiai) aprašyta ryšių įranga.

2.Apie programinės įrangos, parenkančios datagramų arba sparčiosios atrankos paketų (t. y., nuosekliojo paketų perdavimo maršruto atrankos) trasas ar jas perjungiančios, arba apie specialiosios paskirties paketų perjungimo programinės įrangos draudimo statusą žr. 1054 kategoriją (Ryšiai).

2 pastaba:

Kriptografijos, kriptoanalizės, sertifikuojamo daugialygmenio slaptumo ar vartotojų atskyrimo funkcijų, arba riboto elektromagnetinio suderinimo (EMC) kompiuteriai ir su jais susijusi techninė arba programinė įranga taip pat turi būti įvertinta pagal 1151 kategorijos (Informacijos slaptumas) technines charakteristikas.

1041. Įranga, mazgai ir komponentai ex 8471.10 ex 8471.30 ex 8471.91 ex 8471.80 ex 8471.90 ex 8473.30 4A001 1. Elektroniniai kompiuteriai ir su jais susijusi žemiau išvardyta įranga bei specialiai jiems suprojektuoti mazgai ir komponentai: a. Specialiai sukonstruoti ir turintys kurią nors iš šių charakteristikų:

1.Skirti veikti žemesnėje nei 228 K (-45° C) ir aukštesnėje nei 358 K (85° C) aplinkos temperatūroje;

Pastaba:

1041.1. a.1 netaikomas kompiuteriams, skirtiems civiliniams automobiliams arba traukiniams.

2.Atsparūs spinduliuotei, viršijančiai vieną iš šių verčių: a. Pilnutinė dozė 5 x 105 Rad (Si) b. Sutrikimo dozės galia 5 x 108 Rad (Si)/s/arba c. Sutrikimo pavienių įvykių skaičius 1 x 10-7 Klaidų/bitų/dieną (Apie įrangą, suprojektuotą arba skirtą veikti nenuostovio-sios jonizuojančiosios spinduliuotės sąlygomis žr. amunicijos sąrašą). b. Turintys charakteristikas arba veikimo funkcijas, viršijančias 1150 kategorijoje (Informacijos slaptumas) nustatytus apribojimus. ex 8471.10 ex 8471.30 ex 8471.80 ex 8471.90 ex 8473.30 4A002 2. Žemiau išvardyti hibridiniai kompiuteriai ir mazgai bei specialiai jiems suprojektuoti komponentai: a. Turintys skaitmeninius kompiuterius, uždraustus pagal 1041.3; b. Turintys skaitmeninius analogo keitiklius, kurie turi abu šiuos parametrus:

1.Trisdešimt du ar daugiau kanalų; ir 2. Keturiolika bitų (plius ženklo bitas) arba didesnę skyrą arba 200000 keitimų/s ar didesnę keitimo spartą;

4A003 3. Toliau išvardyti skaitmeniniai kompiuteriai, mazgai ir su jais susijusi įranga bei specialiai jiems suprojektuoti komponentai:

Pastabos:

1.1041.3 apima vektorinius procesorius, matricinius procesorius, skaitmeninių signalų procesorius, loginius procesorius, taip pat vaizdo gerinimo arba signalų apdorojimo įrangą.

2.Skaitmeninių kompiuterių ir su jais susijusios įrangos, aprašytos 1041.3, draudimą nustato ir kitos įrangos arba sistemų draudimo sąlygos: a. Susijusi įranga turi lemiamą reikšmę kitos įrangos arba sistemų veikimui; b. Skaitmeniniai kompiuteriai arba su jais susijusi įranga nėra kitos įrangos arba sistemos pagrindinis elementas; ir Ypatinga pastaba:

1.Signalų apdorojimo arba vaizdo gerinimo įrangos, specialiai sukurtos kitai įrangai, kurios funkcijas riboja tos įrangos draudimo statusas, draudimo statusą nustato tos kitos įrangos draudimo statusas, netgi jei tai viršija pagrindinio elemento kriterijus.

2.Apie skaitmeninių kompiuterių arba su jais susijusios ryšių įrangos draudimą žr. 5 kategoriją (Ryšiai). c. Skaitmeninių kompiuterių ir su jais susijusios įrangos technologiją nustato 1045. ex 8471.30 ex 8471.91 ex 8471.92 ex 8471.93 ex 8471.99 ex 8473.30 a. Suprojektuoti arba pritaikyti gedimų pakantai.

Pastaba:

1041.3. a tikslams skirti skaitmeniniai kompiuteriai ir su jais susijusi įranga nėra laikoma suprojektuota ar pritaikyta gedimų pakantai, jei jie naudoja:

1.Klaidų aptikimo ir taisymo pagrindinėje atmintinėje algoritmą;

2.Dviejų skaitmeninių kompiuterių sujungimą, kuriam esant, sugedus aktyviajam centriniam procesoriui, tuščiai veikęs atsarginis centrinis procesorius pratęsia sistemos veikimą;

3.Dviejų procesorių sujungimą duomenų kanalais arba bendros atminties panaudojimą, leidžiantį vienam centriniam procesoriui atlikti kito darbą. Kol antrasis centrinis procesorius yra sugedęs, pirmasis pratęsia sistemos veikimą; arba 4. Dviejų centrinių procesorių sinchronizavimą naudojant programinę įrangą, padedančią vienam centriniam procesoriui atpažinti antrojo gedimą ir perimti sugedusiojo užduotis. b. Skaitmeniniai kompiuteriai, turintys CTP, didesnį kaip 260 Mtops. c. Specialiai suprojektuoti arba pritaikyti mazgai, galintys pagerinti našumą skaičiavimo elementų sujungimo būdu taip, kad junginio CTP viršytų 1041.3. b ribą.

Pastabos:

1.1041.3. c taikomas tiktai mazgams ir programuojamoms jungėms, neviršijantiems 1041.3. b nustatytų ribų ir tiekiamiems neintegruotų mazgų pavidalu. Šis punktas netaikomas mazgams, kurių paskirtį naudoti tik kaip susietąją įrangą nustatė projektas ir kurie uždrausti pagal 1041.3. d, e ar f.

2.1041.3. c nedraudžia specialiai sukurtų gaminių arba gaminių šeimos, kurių didžiausioji konfigūracija neviršija 1041.3. b parametrų ribos. d. Grafiniai greitintuvai arba grafiniai koprocesoriai, kurių trimatė vektorinė sparta didesnė kaip 1600000. ex 8471.30 e. Skaitmeninio analogo keitimo įrenginiai, viršijantys 1031.1. a.5 parametrų ribas. ex 8471.90 ex 8471.80 ex 8473.30 ex 8517.50 f. Įranga, kurioje yra galinės sąsajos įrenginys, viršijanti 1051. b.3 parametrų ribas.

Pastaba:

Pagal 1041.3. f galiniams sąsajos įrenginiams priklauso vietinių tinklų interfeisai, modemai ir kiti ryšių sąsajos įrenginiai. Vietinių tinklų sąsajos įrenginiai yra įvertinami kaip tinklų prieigos valdikliai. g. Specialiai suprojektuota įranga, skirta skaitmeninių kompiuterių sujungimui arba su ja susijusi įranga, kurios duomenų perdavimo sparta viršija 80 Mbaitų/s.

Pastabos:

1.1041.3. g nedraudžia vidinių sujungimų įrangos (pvz., vienijan-čiųjų plokščių, šynų) arba pasyviųjų sujungimų įrangos.

2.Vyriausybė gali leisti 1041.3. g draudžiamos įrangos eksportą, jei ji tiekiama pagal 1041.3. b nedraudžiamiems skaitmeniniams kompiuteriams prijungti prie išorinių įrenginių. ex 8471.10 ex 8471.30 ex 8471.80 ex 8471.92 ex 8471.90 ex 8471.99 ex 8473.30 4A004 4. Žemiau išvardyti kompiuteriai ir specialiai jiems suprojektuota įranga, mazgai ir komponentai: a. Sistoliniai matriciniai kompiuteriai; b. Neuroniniai kompiuteriai; c. Optiniai kompiuteriai.

1042. Bandymo, tikrinimo ir gamybos įranga – nėra 1043. Medžiagos – nėra 1044. Programinė įranga Pastaba:

Programinės įrangos, skirtos kitose kategorijose aprašytai įrangai tobulinti, gaminti ar naudoti, draudimo statusą lemia tos kategorijos. Čia nustatomas šioje kategorijoje aprašytai įrangai skirtos programinės įrangos draudimas. ex 8971.90 ex 8473.30 ex 8524.21 ex 8524.22 ex 8524.23 ex 8524.90 ex 8542.11 ex 8542.20 ex 8542.80 4D001 1. Programinė įranga, specialiai sukurta ar pritaikyta pagal 1041 arba 1044 draudžiamai techninei įrangai ar programinei įrangai tobulinti, gaminti ar naudoti.

4D002 2. Programinė įranga, specialiai sukurta ar pritaikyta pagal 1045 draudžiamai technologijai palaikyti.

4D003 3. Savitosios programinės įrangos: a. Operacinių sistemų programinė įranga, programinės įrangos tobulinimo priemonės ir kompiliatoriai, pirminiu kodu specialiai sukurti daugiasraučio duomenų apdorojimo įrangai; b. Ekspertinės sistemos arba ekspertinių sistemų loginių išvadų me-chanizmo programinė įranga, tiekianti abi šias charakteristikas:

1.Nuo laiko priklausančias taisykles; ir 2. Primityvus taisyklių ir faktų laikinėms charakteristikoms valdyti; c. Programinė įranga, turinti charakteristikas arba atliekanti funk-cijas, viršijančias 5 kategorijos (Informacijos slaptumas) ribas; d. Operacinės sistemos, specialiai suprojektuotos realiojo laiko veikos įrangai, kuri užtikrina mažesnę kaip 20 ms visiškosios pertraukties laukimo trukmę.

1045. Technologija 4E001 1. Technologija, kuri remiantis bendruoju technologijų sąrašu naudojama pagal 1041 ar 1044 draudžiamai techninei programinei įrangai tobulinti, gaminti ar naudoti. ex 8471.90 ex 8473.30 ex 8480.30 ex 8524.21 ex 8524.22 ex 8524.23 ex 8524.90 ex 8542.11 ex 8542.20 ex 8542.80 4E002 2. Kitos technologijos, tokios kaip: a. Technologija daugiasrautei duomenų apdorojimo įrangai, kurios CTP viršija 120 Mtops, tobulinti ar gaminti; b. Technologija didžiausios bitų perdavimo spartos (MBTR), viršijančios 47 Mbit/s, magnetinių kietųjų diskų kaupikliams tobulinti ar gaminti.

Techninė pastaba apie sudėtinę teorinę spartą (CTP):

Šioje techninėje pastaboje vartojamos santrumpos:

CE – skaičiavimo elementas (paprastai – aritmetinis loginis blokas) FP – slankusis kablelis (taškas) XP – fiksuotasis kablelis (taškas) t – vykdymo trukmė XOR – uždraustas ARBA CPU – centrinis procesorius TP – teorinė sparta (vienintelio CE) CTP – sudėtinė teorinė sparta (daugelio CE) R – efektyvioji skaičiavimo sparta WL – žodžio ilgis L – suderintasis žodžio ilgis *– dauginti Vykdymo trukmė t yra išreiškiama mikrosekundėmis, TP ir CTP išreiškiami teorinių operacijų milijonais per sekundę (Mtops), o WL išreiškiamas bitais.

CTP apskaičiavimo metodas CTP yra skaičiavimo spartos matas, išreiškiamas Mtops’ais. Skai-čiuojant sudėtinę teorinę sujungtųjų CE spartą, reikia trijų žingsnių:

1.Apskaičiuoti efektyviąją pavienio CE skaičiavimo spartą;

2.Suderintąjį žodžio ilgį (L) taikyti efektyviajai skaičiavimo spartai R, gautai skaičiuojant teorinę kiekvieno CE spartą;

3.Jei yra daugiau nei vienas CE, sujungti TP, gautus junginio CTP atveju. Šie žingsniai išsamiai išdėstyti toliau.

1 pastaba:

Kelių CE junginio, turinčio bendras ar neturinčio bendrų skirtųjų atmintinės posistemių, CTP skaičiuojamas dviem pakopomis: pirmoji – sujungti bendrąją skirtąją atmintinę turinčias CE grupes; antroji – apskaičiuoti daugelio CE su atskiromis atmintinėmis CTP.

2 pastaba:

Ribotai įvesties arba išvesties arba išorines funkcijas atliekantys CE (pvz., diskų kaupikliai, ryšių ar vaizduoklių (videodisplėjų) valdikliai) neįtraukiami į CTP skaičiavimą.

Techninė pastaba dėl CTP:

Ši lentelė parodo pavienio CE efektyviosios skaičiavimo spartos R apskaičiavimo metodiką:

1 žingsnis: Efektyvioji skaičiavimo sparta R:

CE realizacijai:

Efektyvioji skaičiavimo sparta R Pastaba:

Kiekvieną CE reikia įvertinti nepriklausomai.

Tik XP () , jei nėra sudėties realizacijos naudoto: , jei nėra nei sudėties, nei daugybos realizacijų, naudoti specialią galimą aritmetinę operaciją:

Žr. pastabas X ir Y tik FP () , Žr. X ir Y pastabas Abu FP ir XP (R) Skaičiuoti abu , Paprastam loginiam proce-soriui, nerealizuojančiam nė vienos iš specialiųjų aritmetinių operacijų Čia yra XOR vykdymo trukmė; arba loginei įrangai, nerealizuojančiai XOR – trumpiausioji paprastoji loginė operacija.

Žr. X ir Z pastabas Specialiajam loginiam pro-cesoriui, nenaudojančiam nė vienos iš specialiųjų aritmetinių arba loginių operacijų Čia yra rezultatų skaičius per sekundę, WL – bitų skaičius loginei operacijai įvykti, 64 – normavimo į 64 bitų operaciją skaičius.

W pastaba:

Srautinių konvejerinių CE, galinčių atlikti daugiau nei vieną aritmetinę ar loginę operaciją per takto ciklą, srautinė sparta gali būti nustatyta po to, kai srautas pasibaigęs. Jų efektyviajai skaičiavimo spartai nustatyti imama didesnė spartos vertė iš nesrautinės spartos ir srautinės spartos verčių.

X pastaba:

CE, kuris atlieka daug operacijų per vieną takto ciklą (pvz., dvi sudėtis arba dvi vienodas logines operacijas per ciklą), vykdymo trukmė lygi:

Ciklo trukmė t=——————————————————————. vienodų aoperacijų skaičius per kompiuterinį ciklą

Skaityti toliau ↓

DI paaiškinimas pagal oficialų įstatymo tekstą. Orientacinis, nepakeičia teisinės konsultacijos.